Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/123456789/1008

Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorІльченко, Василь Васильович-
dc.contributor.authorЛісняк, Павло Григорович-
dc.contributor.authorГуль, Руслан Володимирович-
dc.date.accessioned2011-05-10T10:58:36Z-
dc.date.available2011-05-10T10:58:36Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.urihttp://elartu.tntu.edu.ua/handle/123456789/1008-
dc.description.abstractThe work investigates the influence of the electronic states of the division line on the parameters of volt-ampere characteristics. It has been ascertained that the parameters of volt-ampere characteristics change under the action of reverse tension of certain duration and amplitude only in those contact structures which have empty electronic state close to Fermi level on the division line of metal-n-silicium. The mechanism of transfer of electric charge does not depend on the action of impulse and power of the current which goes through the division line is defined through the electronic states of the division lineюuk
dc.language.isoukuk
dc.publisherТернопільський національний технічний університет ім. Івана Пулюяuk
dc.subjectгетероструктуриuk
dc.subjectбар’єр Шотткиuk
dc.subjectвольт-амперна характеристикаuk
dc.titleВплив енергетичного положення електронних станів межі поділу контактів дисиліцид металу - n-кремній на стабільність параметрів вoльт-амперних характеристикuk
dc.title.alternativeInfluence of the electronic states of the division line on the parameters hetero-structures MoSi(2)-n-Si and WSi(2)-n-Si of volt-ampere characteristics electric chargeuk
dc.typePreprintuk
dc.coverage.placenameТернопіль, Українаuk
dc.subject.udc621.382uk
Розташовується у зібраннях:Ⅰ науково-технічна конференція „Інформаційні моделі, системи та технології“ (2011)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
gul.pdf224,89 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити
gul.djvu14,36 kBDjVuПереглянути/відкрити
gul__COVER.png162,82 kBimage/pngПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.