Link lub cytat. http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22838

Tytuł: Особливості абераційного аналізу дзеркального еліпсоїда обертання з внутрішньою відбиваючою поверхнею
Inne tytuły: Features of aberrational analysis of mirror ellipsoid of revolution with internal reflection surface
Authors: Геліч, І. В.
Безугла, Н. В.
Helich, I. V.
Bezuglaya, N. V.
Akcesoria: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Україна
Cytat: Геліч І. В. Особливості абераційного аналізу дзеркального еліпсоїда обертання з внутрішньою відбиваючою поверхнею / І. В. Геліч, Н. В. Безугла // Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“, 16-17 листопада 2017 року. — Т. : ТНТУ, 2017. — Том Ⅰ. — С. 70–71. — (Сучасні технології в будівництві, машино- та приладобудуванні).
Bibliographic description: Helich I. V., Bezuglaya N. V. (2017) Osoblyvosti aberatsiinoho analizu dzerkalnoho elipsoida obertannia z vnutrishnoiu vidbyvaiuchoiu poverkhneiu [Features of aberrational analysis of mirror ellipsoid of revolution with internal reflection surface]. Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies" (Tern., 16-17 November 2017), vol. Ⅰ, pp. 70-71 [in Ukrainian].
Część publikacji: Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies"
Konferencja/wydarzenie: Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Journal/kolekcja: Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Tom: 
Data wydania: 16-lis-2017
Date of entry: 21-gru-2017
Wydawca: ТНТУ
TNTU
Place edycja: Тернопіль
Ternopil
Zakresu czasowego: 16-17 листопада 2017 року
16-17 November 2017
UDC: 681.7.012
681.785.4
Strony: 2
Zakres stron: 70-71
Główna strona: 70
Strona końcowa: 71
URI: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22838
Właściciel praw autorskich: © Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2017
Wykaz piśmiennictwa: 1. Bezuglyi M. A. Ellipsoidal reflectors in biomedical diagnostic / M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya // Proc. SPIE 9032-15. – 2013, V2. – Pp.Q1 – Q5.
2. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
3. Безуглий М. О. Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткості поверхні / М.О. Безуглий, Д.В. Ботвиновський, В.В. Зубарєв, Я.О. Коцур // Методи та прилади контролю якості. – 2011. – № 27. – С. 77 – 83.
References: 1. Bezuglyi M. A. Ellipsoidal reflectors in biomedical diagnostic, M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, Proc. SPIE 9032-15, 2013, V2, Pp.Q1 – Q5.
2. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
3. Bezuhlyi M. O. Metod fotometrychnoho dzerkalnoho elipsoida obertannia dlia doslidzhennia shorstkosti poverkhni, M.O. Bezuhlyi, D.V. Botvynovskyi, V.V. Zubariev, Ya.O. Kotsur, Metody ta prylady kontroliu yakosti, 2011, No 27, P. 77 – 83.
Typ zawartości: Conference Abstract
Występuje w kolekcjach:Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“ (2017)



Pozycje DSpace są chronione prawami autorskimi