Empreu aquest identificador per citar o enllaçar aquest ítem: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22838

Títol: Особливості абераційного аналізу дзеркального еліпсоїда обертання з внутрішньою відбиваючою поверхнею
Altres títols: Features of aberrational analysis of mirror ellipsoid of revolution with internal reflection surface
Autor: Геліч, І. В.
Безугла, Н. В.
Helich, I. V.
Bezuglaya, N. V.
Affiliation: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Україна
Bibliographic description (Ukraine): Геліч І. В. Особливості абераційного аналізу дзеркального еліпсоїда обертання з внутрішньою відбиваючою поверхнею / І. В. Геліч, Н. В. Безугла // Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“, 16-17 листопада 2017 року. — Т. : ТНТУ, 2017. — Том Ⅰ. — С. 70–71. — (Сучасні технології в будівництві, машино- та приладобудуванні).
Bibliographic description (International): Helich I. V., Bezuglaya N. V. (2017) Osoblyvosti aberatsiinoho analizu dzerkalnoho elipsoida obertannia z vnutrishnoiu vidbyvaiuchoiu poverkhneiu [Features of aberrational analysis of mirror ellipsoid of revolution with internal reflection surface]. Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies" (Tern., 16-17 November 2017), vol. Ⅰ, pp. 70-71 [in Ukrainian].
Is part of: Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies"
Conference/Event: Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Journal/Collection: Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Volume: 
Data de publicació: 16-de -2017
Date of entry: 21-de -2017
Editorial: ТНТУ
TNTU
Place of the edition/event: Тернопіль
Ternopil
Temporal Coverage: 16-17 листопада 2017 року
16-17 November 2017
UDC: 681.7.012
681.785.4
Number of pages: 2
Page range: 70-71
Start page: 70
End page: 71
URI: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22838
Copyright owner: © Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2017
References (Ukraine): 1. Bezuglyi M. A. Ellipsoidal reflectors in biomedical diagnostic / M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya // Proc. SPIE 9032-15. – 2013, V2. – Pp.Q1 – Q5.
2. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
3. Безуглий М. О. Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткості поверхні / М.О. Безуглий, Д.В. Ботвиновський, В.В. Зубарєв, Я.О. Коцур // Методи та прилади контролю якості. – 2011. – № 27. – С. 77 – 83.
References (International): 1. Bezuglyi M. A. Ellipsoidal reflectors in biomedical diagnostic, M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, Proc. SPIE 9032-15, 2013, V2, Pp.Q1 – Q5.
2. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
3. Bezuhlyi M. O. Metod fotometrychnoho dzerkalnoho elipsoida obertannia dlia doslidzhennia shorstkosti poverkhni, M.O. Bezuhlyi, D.V. Botvynovskyi, V.V. Zubariev, Ya.O. Kotsur, Metody ta prylady kontroliu yakosti, 2011, No 27, P. 77 – 83.
Content type: Conference Abstract
Apareix a les col·leccions:Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“ (2017)



Els ítems de DSpace es troben protegits per copyright, amb tots els drets reservats, sempre i quan no s’indiqui el contrari.