1. ELARTU — Інституційний репозитарій ТНТУ імені Івана Пулюя
2. Матеріали конференцій, семінарів, читань
3. 2017
4. Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“ (2017)

Teitl:	Особливості абераційного аналізу дзеркального еліпсоїда обертання з внутрішньою відбиваючою поверхнею
Teitlau Eraill:	Features of aberrational analysis of mirror ellipsoid of revolution with internal reflection surface
Awduron:	Геліч, І. В. Безугла, Н. В. Helich, I. V. Bezuglaya, N. V.
Affiliation:	Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Україна
Bibliographic description (Ukraine):	Геліч І. В. Особливості абераційного аналізу дзеркального еліпсоїда обертання з внутрішньою відбиваючою поверхнею / І. В. Геліч, Н. В. Безугла // Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“, 16-17 листопада 2017 року. — Т. : ТНТУ, 2017. — Том Ⅰ. — С. 70–71. — (Сучасні технології в будівництві, машино- та приладобудуванні).
Bibliographic description (International):	Helich I. V., Bezuglaya N. V. (2017) Osoblyvosti aberatsiinoho analizu dzerkalnoho elipsoida obertannia z vnutrishnoiu vidbyvaiuchoiu poverkhneiu [Features of aberrational analysis of mirror ellipsoid of revolution with internal reflection surface]. Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies" (Tern., 16-17 November 2017), vol. Ⅰ, pp. 70-71 [in Ukrainian].
Is part of:	Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“ Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies"
Conference/Event:	Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Journal/Collection:	Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Volume:	Ⅰ
Dyddiad Cyhoeddi:	16-Nov-2017
Date of entry:	21-Dec-2017
Cyhoeddwr:	ТНТУ TNTU
Place of the edition/event:	Тернопіль Ternopil
Temporal Coverage:	16-17 листопада 2017 року 16-17 November 2017
UDC:	681.7.012 681.785.4
Number of pages:	2
Page range:	70-71
Start page:	70
End page:	71
URI:	http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22838
Copyright owner:	© Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2017
References (Ukraine):	1. Bezuglyi M. A. Ellipsoidal reflectors in biomedical diagnostic / M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya // Proc. SPIE 9032-15. – 2013, V2. – Pp.Q1 – Q5. 2. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017). 3. Безуглий М. О. Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткості поверхні / М.О. Безуглий, Д.В. Ботвиновський, В.В. Зубарєв, Я.О. Коцур // Методи та прилади контролю якості. – 2011. – № 27. – С. 77 – 83.
References (International):	1. Bezuglyi M. A. Ellipsoidal reflectors in biomedical diagnostic, M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, Proc. SPIE 9032-15, 2013, V2, Pp.Q1 – Q5. 2. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017). 3. Bezuhlyi M. O. Metod fotometrychnoho dzerkalnoho elipsoida obertannia dlia doslidzhennia shorstkosti poverkhni, M.O. Bezuhlyi, D.V. Botvynovskyi, V.V. Zubariev, Ya.O. Kotsur, Metody ta prylady kontroliu yakosti, 2011, No 27, P. 77 – 83.
Content type:	Conference Abstract
Ymddengys yng Nghasgliadau:	Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“ (2017)

Diogelir eitemau yn DSpace gan hawlfraint, a chedwir pob hawl, onibai y nodir fel arall.