Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22838

Назва: Особливості абераційного аналізу дзеркального еліпсоїда обертання з внутрішньою відбиваючою поверхнею
Інші назви: Features of aberrational analysis of mirror ellipsoid of revolution with internal reflection surface
Автори: Геліч, І. В.
Безугла, Н. В.
Helich, I. V.
Bezuglaya, N. V.
Приналежність: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Україна
Бібліографічний опис: Геліч І. В. Особливості абераційного аналізу дзеркального еліпсоїда обертання з внутрішньою відбиваючою поверхнею / І. В. Геліч, Н. В. Безугла // Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“, 16-17 листопада 2017 року. — Т. : ТНТУ, 2017. — Том Ⅰ. — С. 70–71. — (Сучасні технології в будівництві, машино- та приладобудуванні).
Bibliographic description: Helich I. V., Bezuglaya N. V. (2017) Osoblyvosti aberatsiinoho analizu dzerkalnoho elipsoida obertannia z vnutrishnoiu vidbyvaiuchoiu poverkhneiu [Features of aberrational analysis of mirror ellipsoid of revolution with internal reflection surface]. Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies" (Tern., 16-17 November 2017), vol. Ⅰ, pp. 70-71 [in Ukrainian].
Є частиною видання: Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies"
Конференція/захід: Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Журнал/збірник: Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Том: 
Дата публікації: 16-лис-2017
Дата внесення: 21-гру-2017
Видавництво: ТНТУ
TNTU
Місце видання, проведення: Тернопіль
Ternopil
Часове охоплення: 16-17 листопада 2017 року
16-17 November 2017
УДК: 681.7.012
681.785.4
Кількість сторінок: 2
Діапазон сторінок: 70-71
Початкова сторінка: 70
Кінцева сторінка: 71
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22838
Власник авторського права: © Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2017
Перелік літератури: 1. Bezuglyi M. A. Ellipsoidal reflectors in biomedical diagnostic / M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya // Proc. SPIE 9032-15. – 2013, V2. – Pp.Q1 – Q5.
2. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
3. Безуглий М. О. Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткості поверхні / М.О. Безуглий, Д.В. Ботвиновський, В.В. Зубарєв, Я.О. Коцур // Методи та прилади контролю якості. – 2011. – № 27. – С. 77 – 83.
References: 1. Bezuglyi M. A. Ellipsoidal reflectors in biomedical diagnostic, M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, Proc. SPIE 9032-15, 2013, V2, Pp.Q1 – Q5.
2. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
3. Bezuhlyi M. O. Metod fotometrychnoho dzerkalnoho elipsoida obertannia dlia doslidzhennia shorstkosti poverkhni, M.O. Bezuhlyi, D.V. Botvynovskyi, V.V. Zubariev, Ya.O. Kotsur, Metody ta prylady kontroliu yakosti, 2011, No 27, P. 77 – 83.
Тип вмісту: Conference Abstract
Розташовується у зібраннях:Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“ (2017)



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.