Använd denna länk för att citera eller länka till detta dokument: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/123456789/464
Titel: Схема оптичного пристрою для визначення відхилень поверхні від теоретичної
Övriga titlar: Scheme of the optical device for determination the surface form deflection from theoretical
Författare: Зелінський, Ігор Микитович
Яворська, Мирослава Іванівна
Zelinskiy, I.
Yavorska, M.
Bibliographic description (Ukraine): Зелінський І.М. Схема оптичного пристрою для визначення відхилень поверхні від теоретичної / Зелінський І.М., Яворська М.І. // Вісник ТДТУ. — 2010. — Том 15. — № 1. — С. 177-181. — (приладобудування та інформаційно-вимірювальні технології).
Utgivningsdatum: 15-jan-2010
Date of entry: 1-jun-2010
Utgivare: Тернопільський національний технічний університет ім. Івана Пулюя
Place of the edition/event: Тернопіль, Україна
UDC: 621.396
Nyckelord: оптичний пристрій
дифракційна решітка
ПЗС матриці
optical device
diffraction grating
CCD matrixes
Sammanfattning: Розроблено схему оптичного пристрою для дослідження форми поверхні. Схема пристрою дозволяє проводити формування множини оптичних марок на поверхні та їхню фотореєстрацію в один і той же момент часу. Для утворення зображень марок та їх фотореєстрації застосовано двовимірну дифракційну решітку, екрани з отворами та ПЗС фотоматриці. Наведено математичне обґрунтування способу визначення координат поверхні.
Optical device for the surface form investigation is designed. It allows the optical marks ensemble shaping on the surface and their registration simultaneously. Diffraction grating, opaque screens with holes and CCD matrixes were used for registration the optical marks. Mathematical prescription of surface coordinate determinations is given.
URI: http://elartu.tstu.edu.ua/handle/123456789/464
ISSN: 1727-7108
Copyright owner: © „Вісник Тернопільського національного технічного університету“
Publications status : Опубліковано раніше
Content type: Article
Samling:Вісник ТДТУ, 2010, Том 15, № 1
Наукові публікації працівників кафедри приладів і контрольно-вимірювальних систем



Materialet i DSpace är upphovsrättsligt skyddat och får ej användas i kommersiellt syfte!