Схема оптичного пристрою для визначення відхилень поверхні від теоретичної

Abstract

Розроблено схему оптичного пристрою для дослідження форми поверхні. Схема пристрою дозволяє проводити формування множини оптичних марок на поверхні та їхню фотореєстрацію в один і той же момент часу. Для утворення зображень марок та їх фотореєстрації застосовано двовимірну дифракційну решітку, екрани з отворами та ПЗС фотоматриці. Наведено математичне обґрунтування способу визначення координат поверхні.

Optical device for the surface form investigation is designed. It allows the optical marks ensemble shaping on the surface and their registration simultaneously. Diffraction grating, opaque screens with holes and CCD matrixes were used for registration the optical marks. Mathematical prescription of surface coordinate determinations is given.