Link lub cytat.
http://elartu.tntu.edu.ua/handle/123456789/464
Tytuł: | Схема оптичного пристрою для визначення відхилень поверхні від теоретичної |
Inne tytuły: | Scheme of the optical device for determination the surface form deflection from theoretical |
Authors: | Зелінський, Ігор Микитович Яворська, Мирослава Іванівна Zelinskiy, I. Yavorska, M. |
Cytat: | Зелінський І.М. Схема оптичного пристрою для визначення відхилень поверхні від теоретичної / Зелінський І.М., Яворська М.І. // Вісник ТДТУ. — 2010. — Том 15. — № 1. — С. 177-181. — (приладобудування та інформаційно-вимірювальні технології). |
Data wydania: | 15-sty-2010 |
Date of entry: | 1-cze-2010 |
Wydawca: | Тернопільський національний технічний університет ім. Івана Пулюя |
Place edycja: | Тернопіль, Україна |
UDC: | 621.396 |
Słowa kluczowe: | оптичний пристрій дифракційна решітка ПЗС матриці optical device diffraction grating CCD matrixes |
Abstract: | Розроблено схему оптичного пристрою для дослідження форми поверхні. Схема пристрою дозволяє проводити формування множини оптичних марок на поверхні та їхню фотореєстрацію в один і той же момент часу. Для утворення зображень марок та їх фотореєстрації застосовано двовимірну дифракційну решітку, екрани з отворами та ПЗС фотоматриці. Наведено математичне обґрунтування способу визначення координат поверхні. Optical device for the surface form investigation is designed. It allows the optical marks ensemble shaping on the surface and their registration simultaneously. Diffraction grating, opaque screens with holes and CCD matrixes were used for registration the optical marks. Mathematical prescription of surface coordinate determinations is given. |
URI: | http://elartu.tstu.edu.ua/handle/123456789/464 |
ISSN: | 1727-7108 |
Właściciel praw autorskich: | © „Вісник Тернопільського національного технічного університету“ |
Publikacja status : | Опубліковано раніше |
Typ zawartości: | Article |
Występuje w kolekcjach: | Вісник ТДТУ, 2010, Том 15, № 1 Наукові публікації працівників кафедри приладів і контрольно-вимірювальних систем |
Pliki tej pozycji:
Pozycje DSpace są chronione prawami autorskimi