Please use this identifier to cite or link to this item:
http://elartu.tntu.edu.ua/handle/123456789/1432
Title: | Оцінювання мікропошкоджуваності отворів під потайні заклепки |
Other Titles: | Assessment of holes damageability for countersunk rivets |
Authors: | Ясній, Петро Володимирович Гладьо, Сергій Володимирович Гладьо, Володимир Богданович Yasniy, P. Glado, S. Hlado, V. |
Bibliographic description (Ukraine): | Ясній П. Оцінювання мікропошкоджуваності отворів під потайні заклепки / Ясній П., Гладьо С., Гладьо В. // Вісник ТНТУ. — 2011. — Спецвипуск — частина 1. — С.23-29. — (механіка та матеріалознавство). |
Issue Date: | 2011 |
Date of entry: | 9-Nov-2011 |
Publisher: | Тернопільський національний технічний університет ім. Івана Пулюя |
Place of the edition/event: | Тернопіль, Україна |
UDC: | 539.3 |
Keywords: | алюмінієвий сплав отвір дефект растровий електронний мікроскоп aluminum alloy hole defect scanning electron microscope |
Abstract: | Досліджено основні дефекти виготовлення отворів під потайні заклепки за допомогою аналізу поверхні на растровому електронному мікроскопі. Проведено оцінювання параметрів небезпечних мікродефектів на циліндричній та конусній поверхні отвору. Проведено порівняльний аналіз різних способів виготовлення отворів під потайні заклепки. Main manufacturing defects of countersunk rivets holes are researched with scanning electron microscope. Characteristic of dangerous defects are qualified on conical and cylindrical surface. Comparative analysis of different holes manufacture methods is done. Main methods of surface quantity improvement are described. |
URI: | http://elartu.tntu.edu.ua/handle/123456789/1432 |
ISSN: | 1727-7108 |
Copyright owner: | © „Вісник Тернопільського національного технічного університету“ |
Publications status : | Опубліковано раніше |
Content type: | Article |
Appears in Collections: | Наукова діяльність Яснія П. В. Вісник ТНТУ, 2011. Спецвипуск, частина 1 |
Files in This Item:
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.