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| Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії | 611 |
月別閲覧数
| 5月 2026 | 6月 2026 | 7月 2026 | 8月 2026 | 9月 2026 | 10月 2026 | 11月 2026 | |
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| Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії | 44 | 4 | 20 | 4 | 59 | 12 | 10 |
ファイルダウンロード数
| 件数 | |
|---|---|
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.pdf | 112 |
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.djvu | 60 |
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52__COVER.jpg | 22 |
国別閲覧数
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| アメリカ合衆国 | 340 |
| ブラジル | 39 |
| 中華人民共和国 | 38 |
| オランダ | 37 |
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| ウクライナ | 15 |
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| フランス | 9 |
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| イギリス | 5 |
都市別閲覧数
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| San Ramon | 55 |
| Mountain View | 41 |
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| Menlo Park | 14 |
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| Louisville | 8 |