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| Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії | 401 |
月別閲覧数
| 4月 2025 | 5月 2025 | 6月 2025 | 7月 2025 | 8月 2025 | 9月 2025 | 10月 2025 | |
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| Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії | 1 | 5 | 5 | 2 | 31 | 6 | 0 |
ファイルダウンロード数
| 件数 | |
|---|---|
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.pdf | 81 |
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.djvu | 45 |
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52__COVER.jpg | 17 |
国別閲覧数
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| アメリカ合衆国 | 253 |
| オランダ | 36 |
| 中華人民共和国 | 35 |
| ドイツ | 31 |
| ウクライナ | 15 |
| オーストラリア | 5 |
| ベトナム | 5 |
| イギリス | 4 |
| モルドバ | 3 |
| ロシア | 3 |
都市別閲覧数
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| San Ramon | 55 |
| Mountain View | 36 |
| San Mateo | 32 |
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| Menlo Park | 14 |
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