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| Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії | 365 |
月別閲覧数
| 2月 2025 | 3月 2025 | 4月 2025 | 5月 2025 | 6月 2025 | 7月 2025 | 8月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії | 1 | 13 | 1 | 5 | 5 | 2 | 1 |
ファイルダウンロード数
| 件数 | |
|---|---|
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.pdf | 79 |
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.djvu | 43 |
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52__COVER.jpg | 17 |
国別閲覧数
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| アメリカ合衆国 | 223 |
| オランダ | 36 |
| ドイツ | 31 |
| 中華人民共和国 | 30 |
| ウクライナ | 15 |
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| モルドバ | 3 |
| ロシア | 3 |
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| San Ramon | 55 |
| Mountain View | 36 |
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