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| Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії | 526 |
月別閲覧数
| 1月 2026 | 2月 2026 | 3月 2026 | 4月 2026 | 5月 2026 | 6月 2026 | 7月 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії | 26 | 20 | 5 | 2 | 44 | 4 | 20 |
ファイルダウンロード数
| 件数 | |
|---|---|
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.pdf | 98 |
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.djvu | 57 |
| APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52__COVER.jpg | 21 |
国別閲覧数
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| アメリカ合衆国 | 288 |
| ブラジル | 37 |
| オランダ | 37 |
| 中華人民共和国 | 36 |
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| ウクライナ | 15 |
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| オーストラリア | 6 |
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| San Ramon | 55 |
| Mountain View | 38 |
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