Статистика

Общо Посещения

Посещения
Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії 526

Общо Посещения за Месец

Януари 2026 Февруари 2026 Март 2026 Април 2026 Май 2026 Юни 2026 Юли 2026
Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії 26 20 5 2 44 4 20

Изтеглени Файлове

Посещения
APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.pdf 98
APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.djvu 57
APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52__COVER.jpg 21

Посещения по Страна

Посещения
United States 288
Brazil 37
Netherlands 37
China 36
Germany 32
Ukraine 15
Japan 12
Australia 6
United Kingdom 5
Vietnam 5

Посещения по Град

Посещения
San Ramon 55
Mountain View 38
San Mateo 34
San Diego 29
Menlo Park 14
Tokyo 11
Kiev 8
Louisville 8
Dearborn 5
Hanoi 5