Статистика

Общо Посещения

Посещения
Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії 503

Общо Посещения за Месец

Декември 2025 Януари 2026 Февруари 2026 Март 2026 Април 2026 Май 2026 Юни 2026
Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії 1 26 20 5 2 44 1

Изтеглени Файлове

Посещения
APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.pdf 96
APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.djvu 55
APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52__COVER.jpg 21

Посещения по Страна

Посещения
United States 287
Netherlands 37
China 36
Brazil 34
Germany 32
Ukraine 15
Japan 12
Australia 5
United Kingdom 5
Vietnam 5

Посещения по Град

Посещения
San Ramon 55
Mountain View 38
San Mateo 34
San Diego 29
Menlo Park 14
Tokyo 11
Kiev 8
Louisville 8
Dearborn 5
Hanoi 5