Статистика

Общо Посещения

Посещения
Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії 456

Общо Посещения за Месец

Октомври 2025 Ноември 2025 Декември 2025 Януари 2026 Февруари 2026 Март 2026 Април 2026
Дослідженя поверхні (100) шаруватих напівпровідникових кристалів In4Se3 методами скануючих тунельних мікроскопії та спектроскопії 0 3 1 26 20 5 0

Изтеглени Файлове

Посещения
APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.pdf 90
APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52.djvu 50
APTEF_2010_Dverii_O_R-Doslidzhenia_poverkhni_100_51-52__COVER.jpg 17

Посещения по Страна

Посещения
United States 261
Netherlands 36
China 35
Brazil 34
Germany 31
Ukraine 15
Australia 5
Vietnam 5
United Kingdom 4
Japan 3

Посещения по Град

Посещения
San Ramon 55
Mountain View 38
San Mateo 32
San Diego 29
Menlo Park 14
Kiev 8
Louisville 8
Dearborn 5
Hanoi 5
Jackson 4