Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/52872
Titre: Автоматизована система вимірювання радіуса сферичних поверхонь на базі мікроконтролера ESP32
Autre(s) titre(s): Automated system for measuring the radius of spherical surfaces based on the ESP32 microcontroller
Auteur(s): Глушок, Андрій Русланович
Hlushok, Andriy
Bibliographic reference (2015): Глушок А. Р. Автоматизована система вимірювання радіуса сферичних поверхонь на базі мікроконтролера ESP32 : робота на здобуття кваліфікаційного ступеня бакалавра : спец. 153 - Мікро- та наносистемна техніка / наук. кер. М. І. Паламар. Тернопіль : Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2026. 70 с.
Date de publication: 23-jui-2026
Submitted date: 22-jui-2026
Date of entry: 29-jui-2026
Editeur: ТНТУ ім. І. Пулюя
Country (code): UA
Place of the edition/event: ТНТУ ім. І. Пулюя
Supervisor: Паламар, Михайло Іванович
Mots-clés: сферичних поверхонь
spherical surfaces
кульовий кран
ball valve
вимірювання радіуса
radius measurement
сферичний затвор
spherical valve
Number of pages: 70
Résumé: У ході виконання кваліфікаційної роботи розроблено та досліджено автоматизовану систему вимірювання радіуса сферичних поверхонь на базі мікроконтролера ESP32. Система призначена для автоматизованого контролю геометрії сферичних затворів кульових кранів та аналогічних виробів в умовах серійного та дрібносерійного виробництва. Проведений аналіз показав, що існуюча ринкова ніша між доступними (але неавтоматизованими) механічними сферометрами та дорогими (але функціональними) промисловими системами залишається незайнятою. Запропонована система заповнює цю нішу, забезпечуючи точність, достатню для контролю деталей 8-го квалітету, при вартості, доступній для підприємств будь-якого рівня.Розроблена система може бути рекомендована до впровадження на підприємствах, що виготовляють або здійснюють вхідний контроль кульових кранів, підшипників, медичних ендопротезів та інших виробів зі сферичними поверхнями з вимогами за 7–9-м квалітетами точності. Перспективними напрямами розвитку системи є: підвищення точності за рахунок зовнішнього 16-розрядного АЦП ADS1115 (очікувана похибка < 5 мкм); розробка хмарної платформи збору та аналізу даних з реалізацією алгоритмів SPC; додавання другого датчика LVDT для одночасного контролю в двох перетинах; розробка мобільного застосунку для відображення результатів через Bluetooth BLE; адаптація системи для вимірювання увігнутих сферичних поверхонь.
During the qualification work, an automated system for measuring the radius of spherical surfaces based on the ESP32 microcontroller was developed and investigated. The system is designed for automated control of the geometry of spherical valves of ball valves and similar products in serial and small-scale production. The analysis showed that the existing market niche between affordable (but non-automated) mechanical spherometers and expensive (but functional) industrial systems remains unoccupied. The proposed system fills this niche, providing accuracy sufficient for control of 8th-quality parts at a cost affordable for enterprises of any level. The developed system can be recommended for implementation at enterprises that manufacture or carry out incoming control of ball valves, bearings, medical endoprostheses and other products with spherical surfaces with requirements for 7–9th-quality accuracy. Promising directions for system development are: increasing accuracy due to an external 16-bit ADC ADS1115 (expected error < 5 μm); developing a cloud-based data collection and analysis platform with implementation of SPC algorithms; adding a second LVDT sensor for simultaneous control in two sections; developing a mobile application for displaying results via Bluetooth BLE; adapting the system for measuring concave spherical surfaces.
Content: ЗМІСТ ПЕРЕЛІК УМОВНИХ СКОРОЧЕНЬ 6 ВСТУП 8 РОЗДІЛ 1. ЗАГАЛЬНОТЕХНІЧНА ЧАСТИНА 11 1.1. Актуальність вимірювання сферичних поверхонь у виробництві 11 1.2. Класифікація та порівняльний аналіз методів вимірювання 14 1.3. Огляд існуючих промислових аналогів 17 1.4. Виявлені проблеми та обґрунтування розробки 19 1.5. Застосування ESP32 у вимірювальних системах 21 1.6. Вимоги до системи, що розробляється 23 РОЗДІЛ 2. КОНСТРУКТОРСЬКО-ТЕХНОЛОГІЧНА ЧАСТИНА 25 2.1. Концепція та функціональна схема системи 25 2.2. Обґрунтування вибору елементної бази 26 2.3. Архітектура та схема взаємодії вузлів 29 2.4. Обмеження системи та шляхи вдосконалення 31 2.5. Техніко-економічне обґрунтування 32 РОЗДІЛ 3. СПЕЦІАЛЬНА ЧАСТИНА 35 3.1. Механічний вимірювальний вузол 35 3.2. Апаратна реалізація та схема підключення 36 3.3. Математична модель та калібрування 38 3.4. Програмна реалізація на Arduino IDE 40 3.5. Верифікація та результати тестування 48 РОЗДІЛ 4. ОХОРОНА ПРАЦІ 51 4.1. Ергономічні вимоги до організації робочого місця 51 4.2. Електробезпека системи автоматизованої система вимірювання радіуса сферичних поверхонь на базі мікроконтролера ESP32 53 4.3. Вплив електромагнітних полів на людину та заходи щодо зменшення їхнього впливу 55 ВИСНОВКИ 59 СПИСОК ВИКОРИСТАНИХ ДЖЕРЕЛ 62 ДОДАТКИ 64
URI/URL: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/52872
Copyright owner: © Глушок Андрій Русланович, 2026
References (Ukraine): 1. ГОСТ 25346-89. Єдина система допусків і посадок. Квалітети точності. Відхилення. — М.: Видавництво стандартів, 1989. — 32 с.
2. ДСТУ ISO 286-1:2014. Геометричні специфікації продуктів (GPS). Система допусків ISO для лінійних розмірів. — Київ: ДП «УкрНДНЦ», 2015. — 62 с.
3. Авторське свідоцтво СРСР №1516740. Пристрій для вимірювання радіуса сферичної поверхні / Кузнецов В.І. та ін. — Зареєстр. 25.10.1989.
4. Espressif Systems. ESP32 Technical Reference Manual. Version 5.2. — Шанхай: Espressif Systems, 2023. — 1120 с.
5. Espressif Systems. ESP32 Datasheet. Version 3.8. — Шанхай: Espressif Systems, 2023. — 65 с.
6. Fraden J. Handbook of Modern Sensors: Physics, Designs, and Applications. 5th ed. — New York: Springer, 2016. — 758 p.
7. Analog Devices. AD698 Universal LVDT Signal Conditioner. Data Sheet Rev. B. — Norwood: Analog Devices, Inc., 2019. — 16 p.
8. Дмитрієв І.К. Прикладна метрологія: підручник. — Київ: Вища школа, 2010. — 312 с.
9. Жежерін Б.Є. Контрольно-вимірювальні прилади та автоматизація вимірювань. — Харків: НТУ «ХПІ», 2014. — 248 с.
10. Чинков В.М. Основи метрології та вимірювальної техніки: підручник. 2-ге вид. — Харків: Колегіум, 2011. — 312 с.
11. AIAG. Measurement Systems Analysis (MSA) Reference Manual. 4th ed. — Southfield: AIAG, 2010. — 230 p.
12. Adafruit Industries. Adafruit SSD1306 Library Documentation [Електронний ресурс]. — Режим доступу: https://github.com/adafruit/Adafruit_SSD1306 (дата звернення: 12.05.2025).
13. Espressif Systems. Arduino core for the ESP32 [Електронний ресурс]. — Режим доступу: https://github.com/espressif/arduino-esp32 (дата звернення: 10.05.2025).
14. ДСТУ ISO 9001:2015. Системи управління якістю. Вимоги. — Київ: ДП «УкрНДНЦ», 2016. — 28 с.
15. ДСТУ EN 12266-1:2010. Промислова арматура. Випробування металевої арматури. — Київ: Держспоживстандарт, 2011.
16. НПАОП 40.1-1.21-98. Правила безпечної експлуатації електроустановок споживачів. — Київ: Держнаглядохоронпраці, 1998. — 82 с.
17. ДСН 3.3.6.042-99. Державні санітарні норми мікроклімату виробничих приміщень. — Київ: МОЗ України, 1999.
18. ДСТУ ГОСТ 12.2.032:2008. Система стандартів безпеки праці. Робоче місце при виконанні робіт сидячи. — Київ: Держспоживстандарт, 2008.
19. ДБН В.2.5-28:2018. Природне і штучне освітлення. — Київ: Мінрегіон, 2018. — 136 с.
20. Методичні вказівки до виконання кваліфікаційної роботи бакалавра за спеціальністю 151. — Тернопіль: ТНТУ, 2024. — 44 с.
Content type: Bachelor Thesis
Collection(s) :153 — Мікро- та наносистемна техніка, 176 Мікро- та наносистемна техніка (бакалаври)

Fichier(s) constituant ce document :
Fichier Description TailleFormat 
Dyplom_Hlushok_A_2026.pdf1,32 MBAdobe PDFVoir/Ouvrir


Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.

Outils d'administration