Palun kasuta seda identifikaatorit viitamiseks ja linkimiseks: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/51575

Pealkiri: Дослідження оптичних властивостей хімічно синтезованих плівок сульфіду ртуті-кадмію
Teised pealkirjad: Study of optical properties of chemically synthesized mercury-cadmium sulphide films
Autor: Созанський, М. А.
Гумінілович, Р. Р.
Стаднік, В. Є.
Шепіда, М. В.
Шаповал, П. Й.
Sozanskyi, M. A.
Huminilovych, R. R.
Stadnik, V. Ye.
Shepida, M. V.
Shapoval, P. Yo.
Affiliation: Національний університет «Львівська політехніка», Україна
Bibliographic description (Ukraine): Дослідження оптичних властивостей хімічно синтезованих плівок сульфіду ртуті-кадмію / М. А. Созанський, Р. Р. Гумінілович, В. Є. Стаднік, М. В. Шепіда, П. Й. Шаповал // Матеріали ⅩⅣ МНТКМУС „Актуальні задачі сучасних технологій“, 11-12 грудня 2025. — Т. : ФОП Паляниця В.А., 2025. — С. 40–41. — (Нові матеріали, міцність і довговічність елементів конструкцій).
Bibliographic reference (2015): Дослідження оптичних властивостей хімічно синтезованих плівок сульфіду ртуті-кадмію / Созанський М. А. та ін. // Матеріали ⅩⅣ МНТКМУС „Актуальні задачі сучасних технологій“, Тернопіль, 11-12 грудня 2025. 2025. С. 40–41.
Bibliographic citation (APA): Sozanskyi, M. A., Huminilovych, R. R., Stadnik, V. Ye., Shepida, M. V., & Shapoval, P. Yo. (2025). Doslidzhennia optychnykh vlastyvostei khimichno syntezovanykh plivok sulfidu rtuti-kadmiiu [Study of optical properties of chemically synthesized mercury-cadmium sulphide films]. Proceedings of the ⅩⅣ International Scientific and Technical Conference of Young Scientists and Students “Current Issues of Modern Technologies”, 11-12 December 2025, Ternopil, 40-41. PE Palianytsia V.A.. [in Ukrainian].
Bibliographic citation (CHICAGO): Sozanskyi M. A., Huminilovych R. R., Stadnik V. Ye., Shepida M. V., Shapoval P. Yo. (2025) Doslidzhennia optychnykh vlastyvostei khimichno syntezovanykh plivok sulfidu rtuti-kadmiiu [Study of optical properties of chemically synthesized mercury-cadmium sulphide films]. Proceedings of the ⅩⅣ International Scientific and Technical Conference of Young Scientists and Students “Current Issues of Modern Technologies” (Tern., 11-12 December 2025), pp. 40-41 [in Ukrainian].
Is part of: Матеріали ⅩⅣ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“, 2025
Proceedings of the ⅩⅣ International Scientific and Technical Conference of Young Scientists and Students “Current Issues of Modern Technologies”, 2025
Conference/Event: ⅩⅣ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Journal/Collection: Матеріали ⅩⅣ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Ilmumisaasta: 11-det-2025
Date of entry: 19-vee-2026
Kirjastaja: ФОП Паляниця В.А.
PE Palianytsia V.A.
Place of the edition/event: Тернопіль
Ternopil
Temporal Coverage: 11-12 грудня 2025
11-12 December 2025
UDC: 539.232
546.492
546.48
546.22
Number of pages: 2
Page range: 40-41
Start page: 40
End page: 41
URI: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/51575
ISBN: 978-614-8751-08-1
Copyright owner: © Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2025
URL for reference material: https://doi.org/10.21272/jnep.12(2).02010
References (Ukraine): 1. Raval A.V., Shaikh I.A., Jain V.M., Shastri N.M., Patel P.B., Saini L.K., Shah D.V., 2020. Deposition and Characterization of Indium Selenide Thin Films for Opto-electronic Devices. Vol. 12, No. 2, 02010. DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.12(2).02010.
References (International): 1. Raval A.V., Shaikh I.A., Jain V.M., Shastri N.M., Patel P.B., Saini L.K., Shah D.V., 2020. Deposition and Characterization of Indium Selenide Thin Films for Opto-electronic Devices. Vol. 12, No. 2, 02010. DOI: https://doi.org/10.21272/jnep.12(2).02010.
Content type: Conference Abstract
Asub kollektsiooni(de)s:ⅩⅣ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“ (2025)



Kõik teosed on Dspaces autoriõiguste kaitse all.