1. ELARTU — Інституційний репозитарій ТНТУ імені Івана Пулюя
2. Матеріали конференцій, семінарів, читань
3. 2025
4. Міжнародна науково-практична конференція "Іван Пулюй: життя, присвячене науці і Україні", приурочена до 180-річчя від дня народження Івана Пулюя (2025)

Назва:	Аналіз ефективності мутаційного тестування
Інші назви:	Analysis of the effectivnes of mutational testing
Автори:	Ковтко, А. М. Савків, Володимир Богданович Козбур, Галина Володимирівна Козбур, Ігор Романович Kovtko, A. M. Savkiv, V. B. Kozbur, H. V. Kozbur, I. R.
Приналежність:	Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, Україна
Бібліографічний опис:	Аналіз ефективності мутаційного тестування / А. М. Ковтко, Володимир Богданович Савків, Галина Володимирівна Козбур, Ігор Романович Козбур // Матеріали МНТК „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, 28-29 травня 2025 року. — Т. : ФОП Паляниця В. А., 2025. — С. 195–197. — (Моделювання в наукоємних технологіях. Комп’ютерно-інформаційні технології та системи зв’язку. Історичні аспекти, науковий та світоглядний розвиток спадщини Івана Пулюя).
Бібліографічне посилання:	Аналіз ефективності мутаційного тестування / Ковтко А. М. та ін. // Матеріали МНТК „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, Тернопіль, 28-29 травня 2025 року. 2025. С. 195–197.
Bibliographic citation (APA):	Kovtko, A. M., Savkiv, V. B., Kozbur, H. V., & Kozbur, I. R. (2025). Analiz efektyvnosti mutatsiinoho testuvannia [Analysis of the effectivnes of mutational testing]. Proceedings of the International Scientific and Technical Conference "Fundamental and Applied Problems of Modern Technologies", dedicated to the 180th anniversary of the birth of Ivan Puluj and the 65th anniversary of the founding of Ivan Puluj Ternopil National Technical University, 28-29 May 2025, Ternopil, 195-197. PE Palianytsia V.A.. [in Ukrainian].
Bibliographic citation (CHICAGO):	Kovtko A. M., Savkiv V. B., Kozbur H. V., Kozbur I. R. (2025) Analiz efektyvnosti mutatsiinoho testuvannia [Analysis of the effectivnes of mutational testing]. Proceedings of the International Scientific and Technical Conference "Fundamental and Applied Problems of Modern Technologies", dedicated to the 180th anniversary of the birth of Ivan Puluj and the 65th anniversary of the founding of Ivan Puluj Ternopil National Technical University (Tern., 28-29 May 2025), pp. 195-197 [in Ukrainian].
Є частиною видання:	Матеріали Міжнародної науково-технічної конференції „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, присвячена 180-річчю з дня народження Івана Пулюя та 65-річчю з дня заснування Тернопільського національного технічного університету імені Івана Пулюя, 2025 Proceedings of the International Scientific and Technical Conference "Fundamental and Applied Problems of Modern Technologies", dedicated to the 180th anniversary of the birth of Ivan Puluj and the 65th anniversary of the founding of Ivan Puluj Ternopil National Technical University, 2025
Конференція/захід:	Міжнародна науково-технічна конференція „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, присвячена 180-річчю з дня народження Івана Пулюя та 65-річчю з дня заснування Тернопільського національного технічного університету імені Івана Пулюя
Журнал/збірник:	Матеріали Міжнародної науково-технічної конференції „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, присвячена 180-річчю з дня народження Івана Пулюя та 65-річчю з дня заснування Тернопільського національного технічного університету імені Івана Пулюя
Дата публікації:	28-тра-2025
Дата внесення:	18-чер-2025
Видавництво:	ФОП Паляниця В. А. PE Palianytsia V.A.
Місце видання, проведення:	Тернопіль Ternopil
Часове охоплення:	28-29 травня 2025 року 28-29 May 2025
УДК:	681.518
Кількість сторінок:	3
Діапазон сторінок:	195-197
Початкова сторінка:	195
Кінцева сторінка:	197
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу):	http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/48834
ISBN:	978-617-7875-97-9
Власник авторського права:	© Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2025
URL-посилання пов’язаного матеріалу:	https://doi.org/10.62731/mcnd-31.01.2025.005
Перелік літератури:	1. Ozkaya, I. Application of Large Language Models to Software Engineering Tasks: Opportunities, Risks, and Implications / I. Ozkaya // IEEE Software. – 2023. – Vol. 40, No. 3. – P. 4–8. 2. Yan, L., Yan, C., Gao, S., Wang, W., Wang, B., Zhu, C., Chu, S., Zhou, J., Liang, G., Wang, Q., Chen, J. An Empirical Study on Unit Test Generation Using Large Language Models // arXiv. – 2024. – № 2406.18181. 3. Ковтко А. М. Автоматизована системи генерації модульних тестів на основі штучного інтелекту та мутаційного тестування / А. М. Ковтко, В. Б. Савків, І. Р. Козбур // Тези XIII МНПК „Актуальні задачі сучасних технологій“, 11-12 грудня 2024 року. – Т. : ФОП Паляниця В. А., 2024. – с. 417–418. 4. Ковтко, А., Савків, В. (2025). Розробка системи автоматизованого тестування на основі мутацій: переваги та виклики. Матеріали конференцій МЦНД, (31.01.2025; Дрогобич, Україна), 258–261. https://doi.org/10.62731/mcnd-31.01.2025.005. 5. Petrovic, G., Ivankovic, M., Fraser, G., Just, R. Does Mutation Testing Improve Testing Practices? / G. Petrovic, M. Ivankovic, G. Fraser, R. Just // Proceedings of the 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE 2021). – 2021. – P. 910–921.
References:	1. Ozkaya, I. Application of Large Language Models to Software Engineering Tasks: Opportunities, Risks, and Implications, I. Ozkaya, IEEE Software, 2023, Vol. 40, No. 3, P. 4–8. 2. Yan, L., Yan, C., Gao, S., Wang, W., Wang, B., Zhu, C., Chu, S., Zhou, J., Liang, G., Wang, Q., Chen, J. An Empirical Study on Unit Test Generation Using Large Language Models, arXiv, 2024, No 2406.18181. 3. Kovtko A. M. Avtomatyzovana systemy heneratsii modulnykh testiv na osnovi shtuchnoho intelektu ta mutatsiinoho testuvannia, A. M. Kovtko, V. B. Savkiv, I. R. Kozbur, Tezy XIII MNPK "Aktualni zadachi suchasnykh tekhnolohii", 11-12 hrudnia 2024 roku, T. : FOP Palianytsia V. A., 2024, P. 417–418. 4. Kovtko, A., Savkiv, V. (2025). Rozrobka systemy avtomatyzovanoho testuvannia na osnovi mutatsii: perevahy ta vyklyky. Materialy konferentsii MTsND, (31.01.2025; Drohobych, Ukraine), 258–261. https://doi.org/10.62731/mcnd-31.01.2025.005. 5. Petrovic, G., Ivankovic, M., Fraser, G., Just, R. Does Mutation Testing Improve Testing Practices?, G. Petrovic, M. Ivankovic, G. Fraser, R. Just, Proceedings of the 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE 2021), 2021, P. 910–921.
Тип вмісту:	Conference Abstract
Розташовується у зібраннях:	Міжнародна науково-практична конференція "Іван Пулюй: життя, присвячене науці і Україні", приурочена до 180-річчя від дня народження Івана Пулюя (2025)

Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.