Please use this identifier to cite or link to this item: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/48834

Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКовтко, А. М.
dc.contributor.authorСавків, Володимир Богданович
dc.contributor.authorКозбур, Галина Володимирівна
dc.contributor.authorКозбур, Ігор Романович
dc.contributor.authorKovtko, A. M.
dc.contributor.authorSavkiv, V. B.
dc.contributor.authorKozbur, H. V.
dc.contributor.authorKozbur, I. R.
dc.coverage.temporal28-29 травня 2025 року
dc.coverage.temporal28-29 May 2025
dc.date.accessioned2025-06-18T10:42:18Z-
dc.date.available2025-06-18T10:42:18Z-
dc.date.created2025-05-28
dc.date.issued2025-05-28
dc.identifier.citationАналіз ефективності мутаційного тестування / А. М. Ковтко, Володимир Богданович Савків, Галина Володимирівна Козбур, Ігор Романович Козбур // Матеріали МНТК „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, 28-29 травня 2025 року. — Т. : ФОП Паляниця В. А., 2025. — С. 195–197. — (Моделювання в наукоємних технологіях. Комп’ютерно-інформаційні технології та системи зв’язку. Історичні аспекти, науковий та світоглядний розвиток спадщини Івана Пулюя).
dc.identifier.isbn978-617-7875-97-9
dc.identifier.urihttp://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/48834-
dc.format.extent195-197
dc.language.isouk
dc.publisherФОП Паляниця В. А.
dc.publisherPE Palianytsia V.A.
dc.relation.ispartofМатеріали Міжнародної науково-технічної конференції „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, присвячена 180-річчю з дня народження Івана Пулюя та 65-річчю з дня заснування Тернопільського національного технічного університету імені Івана Пулюя, 2025
dc.relation.ispartofProceedings of the International Scientific and Technical Conference "Fundamental and Applied Problems of Modern Technologies", dedicated to the 180th anniversary of the birth of Ivan Puluj and the 65th anniversary of the founding of Ivan Puluj Ternopil National Technical University, 2025
dc.relation.urihttps://doi.org/10.62731/mcnd-31.01.2025.005
dc.titleАналіз ефективності мутаційного тестування
dc.title.alternativeAnalysis of the effectivnes of mutational testing
dc.typeConference Abstract
dc.rights.holder© Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2025
dc.coverage.placenameТернопіль
dc.coverage.placenameTernopil
dc.format.pages3
dc.subject.udc681.518
dc.relation.references1. Ozkaya, I. Application of Large Language Models to Software Engineering Tasks: Opportunities, Risks, and Implications / I. Ozkaya // IEEE Software. – 2023. – Vol. 40, No. 3. – P. 4–8.
dc.relation.references2. Yan, L., Yan, C., Gao, S., Wang, W., Wang, B., Zhu, C., Chu, S., Zhou, J., Liang, G., Wang, Q., Chen, J. An Empirical Study on Unit Test Generation Using Large Language Models // arXiv. – 2024. – № 2406.18181.
dc.relation.references3. Ковтко А. М. Автоматизована системи генерації модульних тестів на основі штучного інтелекту та мутаційного тестування / А. М. Ковтко, В. Б. Савків, І. Р. Козбур // Тези XIII МНПК „Актуальні задачі сучасних технологій“, 11-12 грудня 2024 року. – Т. : ФОП Паляниця В. А., 2024. – с. 417–418.
dc.relation.references4. Ковтко, А., Савків, В. (2025). Розробка системи автоматизованого тестування на основі мутацій: переваги та виклики. Матеріали конференцій МЦНД, (31.01.2025; Дрогобич, Україна), 258–261. https://doi.org/10.62731/mcnd-31.01.2025.005.
dc.relation.references5. Petrovic, G., Ivankovic, M., Fraser, G., Just, R. Does Mutation Testing Improve Testing Practices? / G. Petrovic, M. Ivankovic, G. Fraser, R. Just // Proceedings of the 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE 2021). – 2021. – P. 910–921.
dc.relation.referencesen1. Ozkaya, I. Application of Large Language Models to Software Engineering Tasks: Opportunities, Risks, and Implications, I. Ozkaya, IEEE Software, 2023, Vol. 40, No. 3, P. 4–8.
dc.relation.referencesen2. Yan, L., Yan, C., Gao, S., Wang, W., Wang, B., Zhu, C., Chu, S., Zhou, J., Liang, G., Wang, Q., Chen, J. An Empirical Study on Unit Test Generation Using Large Language Models, arXiv, 2024, No 2406.18181.
dc.relation.referencesen3. Kovtko A. M. Avtomatyzovana systemy heneratsii modulnykh testiv na osnovi shtuchnoho intelektu ta mutatsiinoho testuvannia, A. M. Kovtko, V. B. Savkiv, I. R. Kozbur, Tezy XIII MNPK "Aktualni zadachi suchasnykh tekhnolohii", 11-12 hrudnia 2024 roku, T. : FOP Palianytsia V. A., 2024, P. 417–418.
dc.relation.referencesen4. Kovtko, A., Savkiv, V. (2025). Rozrobka systemy avtomatyzovanoho testuvannia na osnovi mutatsii: perevahy ta vyklyky. Materialy konferentsii MTsND, (31.01.2025; Drohobych, Ukraine), 258–261. https://doi.org/10.62731/mcnd-31.01.2025.005.
dc.relation.referencesen5. Petrovic, G., Ivankovic, M., Fraser, G., Just, R. Does Mutation Testing Improve Testing Practices?, G. Petrovic, M. Ivankovic, G. Fraser, R. Just, Proceedings of the 43rd International Conference on Software Engineering (ICSE 2021), 2021, P. 910–921.
dc.contributor.affiliationТернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, Україна
dc.citation.journalTitleМатеріали Міжнародної науково-технічної конференції „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, присвячена 180-річчю з дня народження Івана Пулюя та 65-річчю з дня заснування Тернопільського національного технічного університету імені Івана Пулюя
dc.citation.spage195
dc.citation.epage197
dc.citation.conferenceМіжнародна науково-технічна конференція „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, присвячена 180-річчю з дня народження Івана Пулюя та 65-річчю з дня заснування Тернопільського національного технічного університету імені Івана Пулюя
dc.identifier.citation2015Аналіз ефективності мутаційного тестування / Ковтко А. М. та ін. // Матеріали МНТК „Фундаментальні та прикладні проблеми сучасних технологій“, Тернопіль, 28-29 травня 2025 року. 2025. С. 195–197.
dc.identifier.citationenAPAKovtko, A. M., Savkiv, V. B., Kozbur, H. V., & Kozbur, I. R. (2025). Analiz efektyvnosti mutatsiinoho testuvannia [Analysis of the effectivnes of mutational testing]. Proceedings of the International Scientific and Technical Conference "Fundamental and Applied Problems of Modern Technologies", dedicated to the 180th anniversary of the birth of Ivan Puluj and the 65th anniversary of the founding of Ivan Puluj Ternopil National Technical University, 28-29 May 2025, Ternopil, 195-197. PE Palianytsia V.A.. [in Ukrainian].
dc.identifier.citationenCHICAGOKovtko A. M., Savkiv V. B., Kozbur H. V., Kozbur I. R. (2025) Analiz efektyvnosti mutatsiinoho testuvannia [Analysis of the effectivnes of mutational testing]. Proceedings of the International Scientific and Technical Conference "Fundamental and Applied Problems of Modern Technologies", dedicated to the 180th anniversary of the birth of Ivan Puluj and the 65th anniversary of the founding of Ivan Puluj Ternopil National Technical University (Tern., 28-29 May 2025), pp. 195-197 [in Ukrainian].
Appears in Collections:Міжнародна науково-практична конференція "Іван Пулюй: життя, присвячене науці і Україні", приурочена до 180-річчя від дня народження Івана Пулюя (2025)



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.