Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/39106

Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorПідгурський, Микола Іванович
dc.contributor.authorПідгурський, Іван Миколайович
dc.contributor.authorСташків, Микола Ярославович
dc.contributor.authorРудяк, Ю.
dc.contributor.authorPidgurskyi, M.
dc.contributor.authorPidgurskyi, I.
dc.contributor.authorStashkiv, M.
dc.contributor.authorРудяк, Ю.
dc.coverage.temporal10-11 листопада 2022 року
dc.coverage.temporalNovember 10-11, 2022
dc.date.accessioned2022-12-05T15:44:17Z-
dc.date.available2022-12-05T15:44:17Z-
dc.date.created2022-11-10
dc.date.issued2022-11-10
dc.identifier.citationМоделювання взаємодії двох поверхневих півеліптичних компланарних тріщин довільних розмірів за одновісного розтягу пластини скінчених розмірів / Микола Іванович Підгурський, Іван Миколайович Підгурський, Микола Ярославович Сташків, Ю. Рудяк // Матеріали Міжнародої науково-технічної конференції „Міцність і довговічність сучасних матеріалів та конструкцій“, 10-11 листопада 2022 року. — Т. : ФОП Паляниця В. А., 2022. — С. 84–86. — (Міцність сучасних матеріалів і конструкцій).
dc.identifier.isbn978-617-7875-43-6
dc.identifier.urihttp://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/39106-
dc.description.abstractDefinition of the stress intensity factors is one of the most important tasks for the estimation of residual life of structures. Precise computation of stress intensity factors accurately is of great importance in any linear elastic fracture mechanics problem. The analysis of available methods for determining stress intensity factors (SIF) for surface semielliptical cracks along their contour has been carried out and data on the mutual influence of several cracks on the change of SIF has been obtained
dc.format.extent84-86
dc.language.isouk
dc.publisherФОП Паляниця В. А.
dc.publisherPE Palianytsia V. A.
dc.relation.ispartofПраці конференції Міжнародної науково-технічної конференції присвяченої 70-річчю від дня народженнячлен-кореспондента НАН України, проф. Яснія Петра Володимировича „Міцність і довговічність сучасних матеріалів та конструкцій“, 2022
dc.relation.ispartofProceedings of the International scientific and technical conference dedicated to the 70th anniversary from the day of birth of Corresponding member of the National Academy of Sciences of Ukraine, professor Yasniy Petro, 2022
dc.titleМоделювання взаємодії двох поверхневих півеліптичних компланарних тріщин довільних розмірів за одновісного розтягу пластини скінчених розмірів
dc.title.alternativeModeling of the interaction of two coplanar semi-elliptical surface cracks of arbitrary dimensions under uniaxial tension of a finite-dimensional plate
dc.typeConference Abstract
dc.rights.holder© Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2022
dc.coverage.placenameТернопіль
dc.coverage.placenameTernopil
dc.format.pages3
dc.subject.udc620.172
dc.relation.references1. Справочник по коэффициентам интенсивности напряжений / Под ред. Ю. Мураками. – М.: Мир, 1990. – Т.1, Т.2. – 1016с.
dc.relation.references2. Chang Dr., Kotousov A. A strip yield model for two collinear cracks / Eng. Fract. Mech., 2012. – №90. – p.121-128.
dc.relation.references3. Raju I.S., Newman J.C. Jr. Stress-intensity factors for a wide range semi-elliptical surface cracks in finite-thickness plates // Eng. Fract. Mech., 11. - №4. - pp. 817-829.
dc.relation.references4. Моделювання розкриття втомної тріщини в сплаві Д16Т за регулярного навантаження методом скінчених елементів/П.Ясній, Ю.Пиндус, О.Галущак, В.Фостик// Вісник ТНТУ, 2013. – Том 70. – № 2. – С.7-14.
dc.relation.referencesen1. Spravochnik po koeffitsientam intensivnosti napriazhenii, ed. Iu. Murakami, M., Mir, 1990, V.1, V.2, 1016p.
dc.relation.referencesen2. Chang Dr., Kotousov A. A strip yield model for two collinear cracks, Eng. Fract. Mech., 2012, No 90, p.121-128.
dc.relation.referencesen3. Raju I.S., Newman J.C. Jr. Stress-intensity factors for a wide range semi-elliptical surface cracks in finite-thickness plates, Eng. Fract. Mech., 11, No 4, pp. 817-829.
dc.relation.referencesen4. Modeliuvannia rozkryttia vtomnoi trishchyny v splavi D16T za rehuliarnoho navantazhennia metodom skinchenykh elementiv/P.Yasnii, Yu.Pyndus, O.Halushchak, V.Fostyk// Visnyk TNTU, 2013, V. 70, No 2, P.7-14.
dc.identifier.citationenPidgurskyi M., Pidgurskyi I., Stashkiv M., Рудяк Ю. (2022) Modeliuvannia vzaiemodii dvokh poverkhnevykh piveliptychnykh komplanarnykh trishchyn dovilnykh rozmiriv za odnovisnoho roztiahu plastyny skinchenykh rozmiriv [Modeling of the interaction of two coplanar semi-elliptical surface cracks of arbitrary dimensions under uniaxial tension of a finite-dimensional plate]. Proceedings of the International scientific and technical conference "Strength and durability of modern materials and constructions" (Tern., November 10-11, 2022), pp. 84-86 [in Ukrainian].
dc.contributor.affiliationТернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, Україна
dc.contributor.affiliationТернопільський національний медичний університет імені І.Я. Горбачевського, Україна
dc.contributor.affiliationTernopil Ivan Puluj National Technical University, Ukraine
dc.contributor.affiliationI. Horbachevsky Ternopil National Medical University, Ukraine
dc.citation.journalTitleПраці конференції Міжнародної науково-технічної конференції присвяченої 70-річчю від дня народженнячлен-кореспондента НАН України, проф. Яснія Петра Володимировича „Міцність і довговічність сучасних матеріалів та конструкцій“
dc.citation.spage84
dc.citation.epage86
dc.citation.conferenceМіжнародна науково-технічна конференція присвячена 70-річчю від дня народженнячлен-кореспондента НАН України, проф. Яснія Петра Володимировича „Міцність і довговічність сучасних матеріалів та конструкцій“
Розташовується у зібраннях:Міжнародна науково-технічна конференція „Міцність і довговічність сучасних матеріалів та конструкцій“ присвячена 70-річчю від дня народження член-кореспондента НАН України, проф. Яснія Петра Володимировича (2022)



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.