Кафедра приладів і контрольно-вимірювальних систем (ПВ)
: [173]
Домівка фонду
Перегляд статистики
Нові матеріали
Методичний посібник для виконання самостійних робіт з дисципліни „Методи і засоби вимірювання механічних величин. для студентів денної та заочної форм навчання.
Переглянути
Методичні вказівки щодо самостійної роботи студентів з дисципліни “Системи прецизійного управління мехатронних систем” для студентів для студентів спеціальностей 175 «Інформаційно-вимірювальні технології», 176 «Мікро- та наносистемна техніка»
Переглянути
Методичні вказівки щодо самостійної роботи студентів з дисципліни “Основи інформаційних систем” для студентів спеціальності 176 «Мікро- та наносистемна техніка»
Переглянути
Методичні вказівки щодо самостійної роботи студентів з дисципліни “Компоненти мікро- та нанотехніки” для студентів спеціальності 176 «Мікро- та наносистемна техніка»
Переглянути
Методичні вказівки щодо самостійної роботи студентів з дисципліни “Автоматизовані системи проєктування наноелектронних пристроїв” для студентів спеціальності 176 «Мікро- та наносистемна техніка»
Переглянути
Паламар М.І., Стрембіцький М.О. Методичні вказівки для виконання практичниї робіт з дисципліни «Компоненти мікро- та нанотехніки» для студентів спеціальності 176 – Мікро-та наносистемна техніка
Переглянути
Стрембіцький М.О. Методичні вказівки для виконання практичниї робіт з дисципліни «Основи інформаційних систем» для студентів спеціальності 176 – Мікро-та наносистемна техніка
Переглянути
Методичні вказівки для виконання лабораторних робіт з дисципліни «Системи прецизійного управління мехатронних систем» для студентів спеціальностей 175 «Інформаційно-вимірювальні технології», 176 «Мікро- та наносистемна техніка»
Переглянути
Методичні вказівки для виконання лабораторних робіт з дисципліни «Автоматизовані системи проєктування наноелектронних пристроїв» для студентів спеціальності 176 – «Мікро- та наносистемна техніка»
Переглянути
Конспект лекцій з дисципліни „Системи прецизійного управління мехатронних систем” для студентів спеціальностей 175 – „Інформаційно-вимірювальні технології”, 176 – „Мікро- та наносистемна техніка”
Переглянути
Конспект лекцій з дисципліни „ Основи інформаційних систем” для студентів спеціальності 176 – „Мікро- та наносистемна техніка”
Переглянути
Конспект лекцій з дисципліни „Компоненти мікро- та нанотехніки” для студентів спеціальності 176 – „Мікро- та наносистемна техніка”
Переглянути
Автоматизовані системи проєктування наноелектронних
Переглянути
Specialized Information System for Support of the Process of Recruiting Securities
Переглянути
Схемотехніка електронних вузлів приладів: конспект лекцій
Переглянути
Написання програм мовою C для мікроконтролерів MCS51
Переглянути
Застосування аналогово-цифрових перетворювачів
Переглянути
ДО ОЦІНКИ СТАТИЧНОГО НАВАНТАЖЕННЯ ГОРИЗОНТАЛЬНОГО ВІТРОВОГО ПОТОКУ НА ДЗЕРКАЛО АНТЕНИ
Переглянути
ІНФОРМАЦІЙНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ ДЛЯ ПРИСТРОЮ ДОСЛІДЖЕННЯ ПАРАМЕТРІВ ШОРСТКОСТІ ДЕТАЛЕЙ З ПЛОСКОЮ ПОВЕРХНЕЮ
Переглянути
ОЦІНКИ МЕЖ ДЕФОРМАЦІЇ БАЛКИ ПРИ ВАРІАЦІЇ ЇЇ ПОПЕРЕЧНИХ РОЗМІРІВ МАТЕРІАЛУ І ПРИКЛАДЕНИХ ЗУСИЛЬ
Переглянути
ДОСЛІДЖЕННЯ ОСОБЛИВОСТЕЙ ПРОЦЕСУ ПЕРЕТВОРЕННЯ СИГНАЛУ В МІКРОСХЕМІ AD598
Переглянути
Водопоглинання полімерних зразків різної товщини та вплив на величину модуля пружності
Переглянути
Методика тестування поверхні параболічних антен
Переглянути
S-моделі для оцінки надійності інформаційних систем
Переглянути
Залежність ємності від переміщення з врахуванням неоднорідності статичного поля
Переглянути