1. ELARTU — Інституційний репозитарій ТНТУ імені Івана Пулюя
  2. Вісник ТНТУ
  3. 1999
  4. Вісник ТДТУ, 1999, том 4, число 2
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/53981

Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorКлим, Б.
dc.contributor.authorПочапський, Є.
dc.contributor.authorМикитин, Г.
dc.date.accessioned2026-08-31T15:01:59Z-
dc.date.available2026-08-31T15:01:59Z-
dc.date.created1999-06-22
dc.date.issued1999-06-22
dc.identifier.citationКлим Б. Фотометричні вимірювання параметрів оптичних сигналів при неруйнівному контролі якості матеріалів / Б. Клим, Є. Почапський, Г. Микитин // Вісник ТДТУ. — Т. : ТДТУ, 1999. — Том 4. — № 2. — С. 109–116. — (Приладобудування).
dc.identifier.urihttp://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/53981-
dc.description.abstractЗапропоновано спосіб оцінювання параметрів оптичного сигналу в умовах наявності шумової складової при фотометричному методі неруйнівного контролю якості матеріалів.
dc.format.extent109-116
dc.language.isouk
dc.publisherТДТУ
dc.publisherTSTU
dc.relation.ispartofВісник Тернопільського державного технічного університету, 2 (4), 1999
dc.relation.ispartofScientific Journal of the Ternopil State Technical University, 2 (4), 1999
dc.titleФотометричні вимірювання параметрів оптичних сигналів при неруйнівному контролі якості матеріалів
dc.typeArticle
dc.rights.holder© Тернопільський державний технічний університет імені Івана Пулюя, 1999
dc.coverage.placenameТернопіль
dc.coverage.placenameTernopil
dc.format.pages8
dc.subject.udc620.179.15
dc.contributor.affiliationФізико-механічний інститут імені В.Карпенка
dc.citation.journalTitleВісник Тернопільського державного технічного університету
dc.citation.volume4
dc.citation.issue2
dc.citation.spage109
dc.citation.epage116
dc.identifier.citation2015Клим Б., Почапський Є., Микитин Г. Фотометричні вимірювання параметрів оптичних сигналів при неруйнівному контролі якості матеріалів // Вісник ТДТУ, Тернопіль. 1999. Том 4. № 2. С. 109–116.
dc.identifier.citationenAPAKlim, B., Pochapskyi, Ye., & Mikitin, H. (1999). Fotometrychni vymiriuvannia parametriv optychnykh syhnaliv pry neruinivnomu kontroli yakosti materialiv. Scientific Journal of the Ternopil State Technical University, 4(2), 109-116. TSTU. [in Ukrainian].
dc.identifier.citationenCHICAGOKlym B., Pochapskyi Ye., Mykytyn H. (1999) Fotometrychni vymiriuvannia parametriv optychnykh syhnaliv pry neruinivnomu kontroli yakosti materialiv. Scientific Journal of the Ternopil State Technical University (Tern.), vol. 4, no 2, pp. 109-116 [in Ukrainian].
Розташовується у зібраннях:Вісник ТДТУ, 1999, том 4, число 2

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
TSTUSJ_1999v4n2_Klim_B-Fotometrychni_vymiriuvannia_109-116.pdf1,39 MBAdobe PDFПереглянути/відкрити
TSTUSJ_1999v4n2_Klim_B-Fotometrychni_vymiriuvannia_109-116__COVER.png1,65 MBimage/pngПереглянути/відкрити
Показати базовий опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.