Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/38596
Назва: | Вплив обертання фазової маски на кореляційний сигнал в оптоелектронному пристрої ідентифікації документів |
Інші назви: | The influence of a phase mask rotation on the correlation signal in an optoelectronic device for documents identification |
Автори: | Муравський, Л. Muravsky, L. |
Приналежність: | Фізико-механічний інститут ім. Г.В.Карпенка НАН України |
Бібліографічний опис: | Муравський Л. Вплив обертання фазової маски на кореляційний сигнал в оптоелектронному пристрої ідентифікації документів / Л. Муравський // Вісник ТДТУ. — Т. : ТДТУ, 2000. — Том 5. — № 1. — С. 96–102. — (Приладобудування та інформаційно-вимірювальні системи). |
Bibliographic description: | Muravsky L. (2000) Vplyv obertannia fazovoi masky na koreliatsiinyi syhnal v optoelektronnomu prystroi identyfikatsii dokumentiv [The influence of a phase mask rotation on the correlation signal in an optoelectronic device for documents identification]. Scientific Journal of TSTU (Tern.), vol. 5, no 1, pp. 96-102 [in Ukrainian]. |
Є частиною видання: | Вісник Тернопільського державного технічного університету, 1 (5), 2000 Scientific Journal of the Ternopil State Technical University, 1 (5), 2000 |
Журнал/збірник: | Вісник Тернопільського державного технічного університету |
Випуск/№ : | 1 |
Том: | 5 |
Дата публікації: | 22-бер-2000 |
Дата подання: | 10-лют-2000 |
Дата внесення: | 27-лип-2022 |
Видавництво: | ТДТУ TSTU |
Місце видання, проведення: | Тернопіль Ternopil |
УДК: | 535.8 |
Кількість сторінок: | 7 |
Діапазон сторінок: | 96-102 |
Початкова сторінка: | 96 |
Кінцева сторінка: | 102 |
Короткий огляд (реферат): | Проаналізовано вплив обертання фазової маски на інтенсивність кореляційного сигналу в кореляторі сумісного перетворення Фур’є. Отримано аналітичні залежності між інтенсивністю кореляційного піка та кутом повороту оптичної мітки відносно еталонної маски. Зроблено оцінку похибки кутового позиціонування оптичних міток у пристрої ідентифікації документів залежно від розмірності фазових масок. The analysis of angular selectivity of correlation signals produced by phase masks in a joint transform correlator is realized. The analitical dependencies for a correlation peak intensity versus rotation angle of an optical mark are found. Estimation of an correlation signal as a function of a phase mask dimension in an optoelectronic device for documents identification is carried out. |
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/38596 |
ISSN: | 1727-7108 |
Власник авторського права: | © Тернопільський державний технічний університет імені Івана Пулюя, 2000 |
Перелік літератури: | 1. Van Renesse R.L. Optical Document Security. - Norwood, MA: Artech House, 1994. 2. Proc. SPIE. - 1996. - Vol. 2659. Optical Security and Counterfeit Deterrence Techniques/ R.L. Van Renesse, Ed. - 248 p.3. Javidi B., Horner J.L. Optical pattern recognition for validation and security verification// Opt. Eng. - 1994. - Vol. 33, N 6. - P. 1752-1756. 3. Horner J.L., Javidi B. Optical pattern recognition for validation and security verification// Euro-American Workshop on Optical Pattern Recognition/ B. Javidi and P. Refregier, Eds. - Bellingham, WA: SPIE Optical Engineering Press, 1994. - P. 193-203. 4. Пат. 5 485 312 (США). Optical pattern recognition system and method for verifying the authenticity of a person, product or thing/ J.L. Horner, B. Javidi, J.F. Walkup. 5. Fitio V.M., Muravsky L.I., Stefansky A.I. Using of random phase masks for image recognition in optical correlators// Proc. SPIE. - 1995. - Vol. 2647. - P. 224-234. 6. Staub R., Tompkin W.R., Schilling A. Gratings of constantly varying depth for visual security devices// Opt. Eng. - 1999. - Vol. 38, N 1. - P. 89-98. 7. Javidi B., Zhang G., Li J. Experimental demonstration of the random phase encoding technique for image encryption and security verification// Opt. Eng. - 1996. - Vol. 35, N 9. - P. 2506-2512. 8. Javidi B., Sergent A. Fully phase encoded key and biometrics for security verification// Opt. Eng. - 1997. - Vol. 36, N 3. - P. 935-942. 9. Javidi B., Kippelen B., Peyghambarian N. Optical processing system can foil counterfeiters// Laser Focus World. - 1996, October. - P. 75-81. 10. Optical recognition of phase-encrypted biometrics/ Johnson E.G., Brasher J.D. Gregory D.A. et al.// Opt. Eng. - 1998. - Vol. 37, N 1. - P. 18-26. 11. Weber D., Trolinger J. Novel implementation of nonlinear joint transform correlators in optical security and validation// Opt. Eng. - 1999. - Vol. 38, N 1. - P. 62-68. 12. Separation of random phase mask in optical correlator for security verification/ L.I. Muravsky, V.M. Fitio, M.V. Shovgenyuk, P.A. Hlushak// Proc. SPIE. Algorithms, Devices, and Systems for Optical Information Processing. - 1998. - Vol. 3466. - P. 267-277. 13. Transformed phase mask and photoanisotropic material in optical correlators applied for security verification/ L.I. Muravsky, T.I. Voronyak, V.M. Fitio, M.V. Shovgenyuk// Opt. Eng. - 1999. - Vol. 38, N1. - P. 25-32. 14. Муравський Л.І. Аналіз бінарних фазових зображень в кореляторі сумісного фур’є-перетворення// Відбір і обробка інформації. - 1997. - Вип. 11(87). - С. 75-79. |
References: | 1. Van Renesse R.L. Optical Document Security, Norwood, MA: Artech House, 1994. 2. Proc. SPIE, 1996, Vol. 2659. Optical Security and Counterfeit Deterrence Techniques/ R.L. Van Renesse, Ed, 248 p.3. Javidi B., Horner J.L. Optical pattern recognition for validation and security verification// Opt. Eng, 1994, Vol. 33, N 6, P. 1752-1756. 3. Horner J.L., Javidi B. Optical pattern recognition for validation and security verification// Euro-American Workshop on Optical Pattern Recognition/ B. Javidi and P. Refregier, Eds, Bellingham, WA: SPIE Optical Engineering Press, 1994, P. 193-203. 4. Pat. 5 485 312 (SShA). Optical pattern recognition system and method for verifying the authenticity of a person, product or thing/ J.L. Horner, B. Javidi, J.F. Walkup. 5. Fitio V.M., Muravsky L.I., Stefansky A.I. Using of random phase masks for image recognition in optical correlators// Proc. SPIE, 1995, Vol. 2647, P. 224-234. 6. Staub R., Tompkin W.R., Schilling A. Gratings of constantly varying depth for visual security devices// Opt. Eng, 1999, Vol. 38, N 1, P. 89-98. 7. Javidi B., Zhang G., Li J. Experimental demonstration of the random phase encoding technique for image encryption and security verification// Opt. Eng, 1996, Vol. 35, N 9, P. 2506-2512. 8. Javidi B., Sergent A. Fully phase encoded key and biometrics for security verification// Opt. Eng, 1997, Vol. 36, N 3, P. 935-942. 9. Javidi B., Kippelen B., Peyghambarian N. Optical processing system can foil counterfeiters// Laser Focus World, 1996, October, P. 75-81. 10. Optical recognition of phase-encrypted biometrics/ Johnson E.G., Brasher J.D. Gregory D.A. et al.// Opt. Eng, 1998, Vol. 37, N 1, P. 18-26. 11. Weber D., Trolinger J. Novel implementation of nonlinear joint transform correlators in optical security and validation// Opt. Eng, 1999, Vol. 38, N 1, P. 62-68. 12. Separation of random phase mask in optical correlator for security verification/ L.I. Muravsky, V.M. Fitio, M.V. Shovgenyuk, P.A. Hlushak// Proc. SPIE. Algorithms, Devices, and Systems for Optical Information Processing, 1998, Vol. 3466, P. 267-277. 13. Transformed phase mask and photoanisotropic material in optical correlators applied for security verification/ L.I. Muravsky, T.I. Voronyak, V.M. Fitio, M.V. Shovgenyuk// Opt. Eng, 1999, Vol. 38, N1, P. 25-32. 14. Muravskyi L.I. Analiz binarnykh fazovykh zobrazhen v koreliatori sumisnoho furie-peretvorennia// Vidbir i obrobka informatsii, 1997, Iss. 11(87), P. 75-79. |
Тип вмісту: | Article |
Розташовується у зібраннях: | Вісник ТДТУ, 2000, том 5, № 1 |
Файли цього матеріалу:
Файл | Опис | Розмір | Формат | |
---|---|---|---|---|
TSTUSJ_2000v5n1_Muravsky_L-The_influence_of_a_phase_96-102.pdf | 250,28 kB | Adobe PDF | Переглянути/відкрити | |
TSTUSJ_2000v5n1_Muravsky_L-The_influence_of_a_phase_96-102.djvu | 105,08 kB | DjVu | Переглянути/відкрити | |
TSTUSJ_2000v5n1_Muravsky_L-The_influence_of_a_phase_96-102__COVER.png | 295,38 kB | image/png | Переглянути/відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.