Bu öğeden alıntı yapmak, öğeye bağlanmak için bu tanımlayıcıyı kullanınız: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22840

Tüm üstveri kaydı
Dublin Core AlanıDeğerDil
dc.contributor.authorГорбань, Д. В.
dc.contributor.authorHorban, D. V.
dc.coverage.temporal16-17 листопада 2017 року
dc.coverage.temporal16-17 November 2017
dc.date.accessioned2017-12-21T15:31:55Z-
dc.date.available2017-12-21T15:31:55Z-
dc.date.created2017-11-16
dc.date.issued2017-11-16
dc.identifier.citationГорбань Д. В. Біометричні передумови проектування фотометрів з еліпсоїдальними рефлекторами / Д. В. Горбань // Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“, 16-17 листопада 2017 року. — Т. : ТНТУ, 2017. — Том Ⅰ. — С. 73–74. — (Сучасні технології в будівництві, машино- та приладобудуванні).
dc.identifier.urihttp://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22840-
dc.format.extent73-74
dc.language.isouk
dc.publisherТНТУ
dc.publisherTNTU
dc.relation.ispartofЗбірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
dc.relation.ispartofBook of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies"
dc.titleБіометричні передумови проектування фотометрів з еліпсоїдальними рефлекторами
dc.title.alternativeBiometric prerequisites for the design of photometers with ellipsoidal reflectors
dc.typeConference Abstract
dc.rights.holder© Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2017
dc.coverage.placenameТернопіль
dc.coverage.placenameTernopil
dc.format.pages2
dc.subject.udc535.2
dc.subject.udc616-71
dc.relation.references1. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
dc.relation.references2. Безуглый М. А. Обработка изображений при эллипсоидальной фотометрии / М. А. Безуглый, Н. В. Безуглая, А. Б. Самиляк // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7, № 1.– С. 67 – 76.
dc.relation.references3. Безуглий М. О. Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткості поверхні / М.О. Безуглий, Д.В. Ботвиновський, В.В. Зубарєв, Я.О. Коцур // Методи та прилади контролю якості. – 2011. – № 27. – С. 77 – 83.
dc.relation.referencesen1. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
dc.relation.referencesen2. Bezuhlyi M. A. Obrabotka izobrazhenii pri ellipsoidalnoi fotometrii, M. A. Bezuhlyi, N. V. Bezuhlaia, A. B. Samiliak, Pribory i metody izmerenii, 2016, V. 7, No 1, P. 67 – 76.
dc.relation.referencesen3. Bezuhlyi M. O. Metod fotometrychnoho dzerkalnoho elipsoida obertannia dlia doslidzhennia shorstkosti poverkhni, M.O. Bezuhlyi, D.V. Botvynovskyi, V.V. Zubariev, Ya.O. Kotsur, Metody ta prylady kontroliu yakosti, 2011, No 27, P. 77 – 83.
dc.identifier.citationenHorban D. V. (2017) Biometrychni peredumovy proektuvannia fotometriv z elipsoidalnymy reflektoramy [Biometric prerequisites for the design of photometers with ellipsoidal reflectors]. Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies" (Tern., 16-17 November 2017), vol. Ⅰ, pp. 73-74 [in Ukrainian].
dc.contributor.affiliationНаціональний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»
dc.citation.journalTitleЗбірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
dc.citation.volume
dc.citation.spage73
dc.citation.epage74
dc.citation.conferenceⅥ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Koleksiyonlarda Görünür:Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“ (2017)



DSpace'deki bütün öğeler, aksi belirtilmedikçe, tüm hakları saklı tutulmak şartıyla telif hakkı ile korunmaktadır.