Yazar Зелінський, І. М.

Atla: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
veya bir kaç harf giriniz:  
Gösterilen sonuçlar 1 - 8 den 8
TürYayın TarihiDate of entryBaşlıkYazar(lar)
Conference Abstract16-Kas-201721-Ara-2017Застосування методу центра ваги для визначення координат оптичних марокКузик, Д. Б.; Петрук, В. В.; Щіпський, О. О.; Зелінський, І. М.; Kuzik, D. B.; Petruk, V. V.; Shchipsky, O. O.; Zelinsky, I. M.
Course of lectures201821-Haz-2018Конспект лекцій по предмету «Основи теорії надійності і випробування приладівЗелінський, І. М.
Conference Abstract21-Haz-201926-Haz-2019МЕТОД ОПТИЧНОЇ ТРІАНГУЛЯЦІЇ ДЛЯ КОНТРОЛЮ ФОРМИ ДЗЕРКАЛА АНТЕНИЗелінський, І. М.; Паламар, М. І.; Яворська, М. І.
Other201829-Kas-2018Методична розробка до практичної роботи з курсу „Основи теорії вимірювальних приладів”Зелінський, І. М.
Conference Abstract18-May-20171-Kas-2017Особливості обробки інформації в дискретній опто-електронній системіЗелінський, І. М.; Яворська, М. І.; Zelinskiy, I.; Yavorska, M.
Conference Abstract21-Haz-201926-Haz-2019ОЦІНКИ ТОЧНОСТІ ОПТИЧНОГО ПРИСТРОЮ ДЛЯ КОНТРОЛЮ ПОВЕРХНІ РЕФЛЕКТОРА АНТЕНИЯворська, М. І.; Зелінський, І. М.; Паламар, М. І.; Горин, Т.
Other201821-Haz-2018Практичні роботи по предмету «Основи теорії надійності і випробування приладів»Зелінський, І. М.
Conference Abstract16-Kas-201721-Ara-2017Фотореєстрація оптичних марок рефлектораЗаблоцький, Т. П.; Боднар, Д. Б.; Железняков, М. В.; Зелінський, І. М.; Zablotsky, T. P.; Bodnar, D. B.; Zheleznaykov, M. V.; Zelinsky, I. M.