Please use this identifier to cite or link to this item: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/38751

Title: Оцінка шуму одночасного перемикання у матричних віс з компланарною топологією шин живлення та заземлення
Other Titles: Estimation of the simultaneous switching noise in the matrix VLSI with complanan topology of power supply feeding
Authors: Васильцов, Ігор Володимирович
Vasiltsov, I.
Affiliation: Тернопільська академія народного господарства
Bibliographic description (Ukraine): Васильцов І. В. Оцінка шуму одночасного перемикання у матричних віс з компланарною топологією шин живлення та заземлення / Ігор Володимирович Васильцов // Вісник ТДТУ. — Т. : ТДТУ, 2001. — Том 6. — № 1. — С. 97–103. — (Приладобудування та інформаційно-вимірювальні системи).
Bibliographic description (International): Vasiltsov I. (2001) Otsinka shumu odnochasnoho peremykannia u matrychnykh vis z komplanarnoiu topolohiieiu shyn zhyvlennia ta zazemlennia [Estimation of the simultaneous switching noise in the matrix VLSI with complanan topology of power supply feeding]. Scientific Journal of TSTU (Tern.), vol. 6, no 1, pp. 97-103 [in Ukrainian].
Is part of: Вісник Тернопільського державного технічного університету, 1 (6), 2001
Scientific Journal of the Ternopil State Technical University, 1 (6), 2001
Journal/Collection: Вісник Тернопільського державного технічного університету
Issue: 1
Volume: 6
Issue Date: 27-Feb-2001
Submitted date: 20-Oct-2000
Date of entry: 19-Sep-2022
Publisher: ТДТУ
TSTU
Place of the edition/event: Тернопіль
Ternopil
UDC: 621.382
Number of pages: 7
Page range: 97-103
Start page: 97
End page: 103
Abstract: У статті досліджується проблема побудови нової тривимірної моделі для оцінки параметрів шуму одночасного перемикання. Розроблена математична модель внутрішньої кондуктивної завади у матричних ВІС з компланарною топологією шин живлення та заземлення. Дана модель використовується для розрахунку надійнісних показників цифрових пристроїв, побудованих на програмованих матричних ВІС. Використання цих моделей підвищує ефективність та зменшує терміни проектно-конструкторських робіт при розробці цифрових пристроїв із застосуванням матричних ВІС.
In this paper a problem of constructing a new three-dimensional calculation model for evaluating the parasitic electromagnetic noise is considered. The mathematical model of internal electromagnetic conductive noise for matrix VLSI with complanar topology of power supply feeding have been obtained. Obtained model have to be used when calculating the reliability parameters of designed digital devices constructed on programmable matrix VLSI. Usage of this model allow for designer to increase effectivity and decrease time-to- market parameter during developing of digital devices implemented on matrix VLSI.
URI: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/38751
ISSN: 1727-7108
Copyright owner: © Тернопільський державний технічний університет імені Івана Пулюя, 2001
References (Ukraine): 1. Bogdan A. Mandziy, Igor V. Vasiltsov. Problem of Reliability at Designing of Signals Processing Digital Devices. In Proc. of Intern. Conference TELSIKS’97, 8-10 October, 1997. - Nis, Yugoslavia.- P. 245-248.
2. Michael Gutzmann. Modellirung des Simultaneous Switching Noise von MOS-Ausgans Treibern. Facta Universitatis. Series: Electronics and Energetics.- 1997.- Vol.10.- No.1. - P. 75-90.
3. Быстродействующие матричные БИС и СБИС. Теория и проектирование / Б.Н.Файзулаев, И.И.Шагурин, А.Н.Кармазинский и др. - М.: Радио и связь, 1989. - 304 с.
4. Bogdan Mandzij, Igor Vasiltsov. Simulation of Simultaneous Switching Noise of Logic Gates in VLSI. In Proc. of XV Symposium on Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits. - 22-24 September, 1998.- Liege, Belgium. - P. 224-226.
5. Проектирование топологии матричных БИС. Автоматизация проектирования БИС / Г.Г.Казеннов, Е.В.Сердобинцев. - М.: Высшая школа, 1990. - 112 с.
6. Мандзій Б.А., Желяк Р.І., Васильцов І.В. Оценка показателей функциональной надежности цифровых устройств систем обработки данных // ЭЛЕКТРОСВЯЗЬ: Ежемесячный научно-технический журнал по проводной и радиосвязи, телевидению, радиовещанию.- 1997. - № 2. - С. 12-15.
References (International): 1. Bogdan A. Mandziy, Igor V. Vasiltsov. Problem of Reliability at Designing of Signals Processing Digital Devices. In Proc. of Intern. Conference TELSIKS’97, 8-10 October, 1997, Nis, Yugoslavia, P. 245-248.
2. Michael Gutzmann. Modellirung des Simultaneous Switching Noise von MOS-Ausgans Treibern. Facta Universitatis. Series: Electronics and Energetics, 1997, Vol.10, No.1, P. 75-90.
3. Bystrodeistvuiushchie matrichnye BIS i SBIS. Teoriia i proektirovanie, B.N.Faizulaev, I.I.Shahurin, A.N.Karmazinskii and other - M., Radio i sviaz, 1989, 304 p.
4. Bogdan Mandzij, Igor Vasiltsov. Simulation of Simultaneous Switching Noise of Logic Gates in VLSI. In Proc. of XV Symposium on Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits, 22-24 September, 1998, Liege, Belgium, P. 224-226.
5. Proektirovanie topolohii matrichnykh BIS. Avtomatizatsiia proektirovaniia BIS, H.H.Kazennov, E.V.Serdobintsev, M., Vysshaia shkola, 1990, 112 p.
6. Mandzii B.A., Zheliak R.I., Vasiltsov I.V. Otsenka pokazatelei funktsionalnoi nadezhnosti tsifrovykh ustroistv sistem obrabotki dannykh, ELEKTROSVIaZ: Ezhemesiachnyi nauchno-tekhnicheskii zhurnal po provodnoi i radiosviazi, televideniiu, radioveshchaniiu, 1997, No 2, P. 12-15.
Content type: Article
Appears in Collections:Вісник ТДТУ, 2001, том 6, № 1



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.