Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/38751

Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorВасильцов, Ігор Володимирович
dc.contributor.authorVasiltsov, I.
dc.date.accessioned2022-09-19T06:35:41Z-
dc.date.available2022-09-19T06:35:41Z-
dc.date.created2001-02-27
dc.date.issued2001-02-27
dc.date.submitted2000-10-20
dc.identifier.citationВасильцов І. В. Оцінка шуму одночасного перемикання у матричних віс з компланарною топологією шин живлення та заземлення / Ігор Володимирович Васильцов // Вісник ТДТУ. — Т. : ТДТУ, 2001. — Том 6. — № 1. — С. 97–103. — (Приладобудування та інформаційно-вимірювальні системи).
dc.identifier.issn1727-7108
dc.identifier.urihttp://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/38751-
dc.description.abstractУ статті досліджується проблема побудови нової тривимірної моделі для оцінки параметрів шуму одночасного перемикання. Розроблена математична модель внутрішньої кондуктивної завади у матричних ВІС з компланарною топологією шин живлення та заземлення. Дана модель використовується для розрахунку надійнісних показників цифрових пристроїв, побудованих на програмованих матричних ВІС. Використання цих моделей підвищує ефективність та зменшує терміни проектно-конструкторських робіт при розробці цифрових пристроїв із застосуванням матричних ВІС.
dc.description.abstractIn this paper a problem of constructing a new three-dimensional calculation model for evaluating the parasitic electromagnetic noise is considered. The mathematical model of internal electromagnetic conductive noise for matrix VLSI with complanar topology of power supply feeding have been obtained. Obtained model have to be used when calculating the reliability parameters of designed digital devices constructed on programmable matrix VLSI. Usage of this model allow for designer to increase effectivity and decrease time-to- market parameter during developing of digital devices implemented on matrix VLSI.
dc.format.extent97-103
dc.language.isouk
dc.publisherТДТУ
dc.publisherTSTU
dc.relation.ispartofВісник Тернопільського державного технічного університету, 1 (6), 2001
dc.relation.ispartofScientific Journal of the Ternopil State Technical University, 1 (6), 2001
dc.titleОцінка шуму одночасного перемикання у матричних віс з компланарною топологією шин живлення та заземлення
dc.title.alternativeEstimation of the simultaneous switching noise in the matrix VLSI with complanan topology of power supply feeding
dc.typeArticle
dc.rights.holder© Тернопільський державний технічний університет імені Івана Пулюя, 2001
dc.coverage.placenameТернопіль
dc.coverage.placenameTernopil
dc.format.pages7
dc.subject.udc621.382
dc.relation.references1. Bogdan A. Mandziy, Igor V. Vasiltsov. Problem of Reliability at Designing of Signals Processing Digital Devices. In Proc. of Intern. Conference TELSIKS’97, 8-10 October, 1997. - Nis, Yugoslavia.- P. 245-248.
dc.relation.references2. Michael Gutzmann. Modellirung des Simultaneous Switching Noise von MOS-Ausgans Treibern. Facta Universitatis. Series: Electronics and Energetics.- 1997.- Vol.10.- No.1. - P. 75-90.
dc.relation.references3. Быстродействующие матричные БИС и СБИС. Теория и проектирование / Б.Н.Файзулаев, И.И.Шагурин, А.Н.Кармазинский и др. - М.: Радио и связь, 1989. - 304 с.
dc.relation.references4. Bogdan Mandzij, Igor Vasiltsov. Simulation of Simultaneous Switching Noise of Logic Gates in VLSI. In Proc. of XV Symposium on Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits. - 22-24 September, 1998.- Liege, Belgium. - P. 224-226.
dc.relation.references5. Проектирование топологии матричных БИС. Автоматизация проектирования БИС / Г.Г.Казеннов, Е.В.Сердобинцев. - М.: Высшая школа, 1990. - 112 с.
dc.relation.references6. Мандзій Б.А., Желяк Р.І., Васильцов І.В. Оценка показателей функциональной надежности цифровых устройств систем обработки данных // ЭЛЕКТРОСВЯЗЬ: Ежемесячный научно-технический журнал по проводной и радиосвязи, телевидению, радиовещанию.- 1997. - № 2. - С. 12-15.
dc.relation.referencesen1. Bogdan A. Mandziy, Igor V. Vasiltsov. Problem of Reliability at Designing of Signals Processing Digital Devices. In Proc. of Intern. Conference TELSIKS’97, 8-10 October, 1997, Nis, Yugoslavia, P. 245-248.
dc.relation.referencesen2. Michael Gutzmann. Modellirung des Simultaneous Switching Noise von MOS-Ausgans Treibern. Facta Universitatis. Series: Electronics and Energetics, 1997, Vol.10, No.1, P. 75-90.
dc.relation.referencesen3. Bystrodeistvuiushchie matrichnye BIS i SBIS. Teoriia i proektirovanie, B.N.Faizulaev, I.I.Shahurin, A.N.Karmazinskii and other - M., Radio i sviaz, 1989, 304 p.
dc.relation.referencesen4. Bogdan Mandzij, Igor Vasiltsov. Simulation of Simultaneous Switching Noise of Logic Gates in VLSI. In Proc. of XV Symposium on Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits, 22-24 September, 1998, Liege, Belgium, P. 224-226.
dc.relation.referencesen5. Proektirovanie topolohii matrichnykh BIS. Avtomatizatsiia proektirovaniia BIS, H.H.Kazennov, E.V.Serdobintsev, M., Vysshaia shkola, 1990, 112 p.
dc.relation.referencesen6. Mandzii B.A., Zheliak R.I., Vasiltsov I.V. Otsenka pokazatelei funktsionalnoi nadezhnosti tsifrovykh ustroistv sistem obrabotki dannykh, ELEKTROSVIaZ: Ezhemesiachnyi nauchno-tekhnicheskii zhurnal po provodnoi i radiosviazi, televideniiu, radioveshchaniiu, 1997, No 2, P. 12-15.
dc.identifier.citationenVasiltsov I. (2001) Otsinka shumu odnochasnoho peremykannia u matrychnykh vis z komplanarnoiu topolohiieiu shyn zhyvlennia ta zazemlennia [Estimation of the simultaneous switching noise in the matrix VLSI with complanan topology of power supply feeding]. Scientific Journal of TSTU (Tern.), vol. 6, no 1, pp. 97-103 [in Ukrainian].
dc.contributor.affiliationТернопільська академія народного господарства
dc.citation.journalTitleВісник Тернопільського державного технічного університету
dc.citation.volume6
dc.citation.issue1
dc.citation.spage97
dc.citation.epage103
Розташовується у зібраннях:Вісник ТДТУ, 2001, том 6, № 1



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.