Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22840

Назва: Біометричні передумови проектування фотометрів з еліпсоїдальними рефлекторами
Інші назви: Biometric prerequisites for the design of photometers with ellipsoidal reflectors
Автори: Горбань, Д. В.
Horban, D. V.
Приналежність: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»
Бібліографічний опис: Горбань Д. В. Біометричні передумови проектування фотометрів з еліпсоїдальними рефлекторами / Д. В. Горбань // Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“, 16-17 листопада 2017 року. — Т. : ТНТУ, 2017. — Том Ⅰ. — С. 73–74. — (Сучасні технології в будівництві, машино- та приладобудуванні).
Bibliographic description: Horban D. V. (2017) Biometrychni peredumovy proektuvannia fotometriv z elipsoidalnymy reflektoramy [Biometric prerequisites for the design of photometers with ellipsoidal reflectors]. Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies" (Tern., 16-17 November 2017), vol. Ⅰ, pp. 73-74 [in Ukrainian].
Є частиною видання: Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies"
Конференція/захід: Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Журнал/збірник: Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“
Том: 
Дата публікації: 16-лис-2017
Дата внесення: 21-гру-2017
Видавництво: ТНТУ
TNTU
Місце видання, проведення: Тернопіль
Ternopil
Часове охоплення: 16-17 листопада 2017 року
16-17 November 2017
УДК: 535.2
616-71
Кількість сторінок: 2
Діапазон сторінок: 73-74
Початкова сторінка: 73
Кінцева сторінка: 74
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22840
Власник авторського права: © Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2017
Перелік літератури: 1. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
2. Безуглый М. А. Обработка изображений при эллипсоидальной фотометрии / М. А. Безуглый, Н. В. Безуглая, А. Б. Самиляк // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7, № 1.– С. 67 – 76.
3. Безуглий М. О. Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткості поверхні / М.О. Безуглий, Д.В. Ботвиновський, В.В. Зубарєв, Я.О. Коцур // Методи та прилади контролю якості. – 2011. – № 27. – С. 77 – 83.
References: 1. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).
2. Bezuhlyi M. A. Obrabotka izobrazhenii pri ellipsoidalnoi fotometrii, M. A. Bezuhlyi, N. V. Bezuhlaia, A. B. Samiliak, Pribory i metody izmerenii, 2016, V. 7, No 1, P. 67 – 76.
3. Bezuhlyi M. O. Metod fotometrychnoho dzerkalnoho elipsoida obertannia dlia doslidzhennia shorstkosti poverkhni, M.O. Bezuhlyi, D.V. Botvynovskyi, V.V. Zubariev, Ya.O. Kotsur, Metody ta prylady kontroliu yakosti, 2011, No 27, P. 77 – 83.
Тип вмісту: Conference Abstract
Розташовується у зібраннях:Ⅵ Міжнародна науково-технічна конференція молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“ (2017)



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.