ELARTU — Інституційний репозитарій ТНТУ імені Івана Пулюя: Кафедра приладів і контрольно-вимірювальних систем (ПВ)

Кафедра приладів і контрольно-вимірювальних систем (ПВ) : [172] Strona Główna Zespołu

Ostatnie Zgłoszenia

Методичні вказівки щодо самостійної роботи студентів з дисципліни “Системи прецизійного управління мехатронних систем” для студентів для студентів спеціальностей 175 «Інформаційно-вимірювальні технології», 176 «Мікро- та наносистемна техніка» metadata.dc.date.available = Date wejścia

Методичні вказівки щодо самостійної роботи студентів з дисципліни “Основи інформаційних систем” для студентів спеціальності 176 «Мікро- та наносистемна техніка» metadata.dc.date.available = Date wejścia

Методичні вказівки щодо самостійної роботи студентів з дисципліни “Компоненти мікро- та нанотехніки” для студентів спеціальності 176 «Мікро- та наносистемна техніка» metadata.dc.date.available = Date wejścia

Методичні вказівки щодо самостійної роботи студентів з дисципліни “Автоматизовані системи проєктування наноелектронних пристроїв” для студентів спеціальності 176 «Мікро- та наносистемна техніка» metadata.dc.date.available = Date wejścia

Паламар М.І., Стрембіцький М.О. Методичні вказівки для виконання практичниї робіт з дисципліни «Компоненти мікро- та нанотехніки» для студентів спеціальності 176 – Мікро-та наносистемна техніка metadata.dc.date.available = Date wejścia

Стрембіцький М.О. Методичні вказівки для виконання практичниї робіт з дисципліни «Основи інформаційних систем» для студентів спеціальності 176 – Мікро-та наносистемна техніка metadata.dc.date.available = Date wejścia

Методичні вказівки для виконання лабораторних робіт з дисципліни «Системи прецизійного управління мехатронних систем» для студентів спеціальностей 175 «Інформаційно-вимірювальні технології», 176 «Мікро- та наносистемна техніка» metadata.dc.date.available = Date wejścia

Методичні вказівки для виконання лабораторних робіт з дисципліни «Автоматизовані системи проєктування наноелектронних пристроїв» для студентів спеціальності 176 – «Мікро- та наносистемна техніка» metadata.dc.date.available = Date wejścia

Конспект лекцій з дисципліни „Системи прецизійного управління мехатронних систем” для студентів спеціальностей 175 – „Інформаційно-вимірювальні технології”, 176 – „Мікро- та наносистемна техніка” metadata.dc.date.available = Date wejścia

Конспект лекцій з дисципліни „ Основи інформаційних систем” для студентів спеціальності 176 – „Мікро- та наносистемна техніка” metadata.dc.date.available = Date wejścia

Конспект лекцій з дисципліни „Компоненти мікро- та нанотехніки” для студентів спеціальності 176 – „Мікро- та наносистемна техніка” metadata.dc.date.available = Date wejścia

Автоматизовані системи проєктування наноелектронних metadata.dc.date.available = Date wejścia

Specialized Information System for Support of the Process of Recruiting Securities metadata.dc.date.available = Date wejścia

Схемотехніка електронних вузлів приладів: конспект лекцій metadata.dc.date.available = Date wejścia

Написання програм мовою C для мікроконтролерів MCS51 metadata.dc.date.available = Date wejścia

Застосування аналогово-цифрових перетворювачів metadata.dc.date.available = Date wejścia

ДО ОЦІНКИ СТАТИЧНОГО НАВАНТАЖЕННЯ ГОРИЗОНТАЛЬНОГО ВІТРОВОГО ПОТОКУ НА ДЗЕРКАЛО АНТЕНИ metadata.dc.date.available = Date wejścia

ІНФОРМАЦІЙНЕ ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ ДЛЯ ПРИСТРОЮ ДОСЛІДЖЕННЯ ПАРАМЕТРІВ ШОРСТКОСТІ ДЕТАЛЕЙ З ПЛОСКОЮ ПОВЕРХНЕЮ metadata.dc.date.available = Date wejścia

ОЦІНКИ МЕЖ ДЕФОРМАЦІЇ БАЛКИ ПРИ ВАРІАЦІЇ ЇЇ ПОПЕРЕЧНИХ РОЗМІРІВ МАТЕРІАЛУ І ПРИКЛАДЕНИХ ЗУСИЛЬ metadata.dc.date.available = Date wejścia

ДОСЛІДЖЕННЯ ОСОБЛИВОСТЕЙ ПРОЦЕСУ ПЕРЕТВОРЕННЯ СИГНАЛУ В МІКРОСХЕМІ AD598 metadata.dc.date.available = Date wejścia

Водопоглинання полімерних зразків різної товщини та вплив на величину модуля пружності metadata.dc.date.available = Date wejścia

Методика тестування поверхні параболічних антен metadata.dc.date.available = Date wejścia

S-моделі для оцінки надійності інформаційних систем metadata.dc.date.available = Date wejścia

Залежність ємності від переміщення з врахуванням неоднорідності статичного поля metadata.dc.date.available = Date wejścia

Моделювання роботи приладової системи для повірки деталей на наявність композитних включень засобами мережі Петрі metadata.dc.date.available = Date wejścia

Browse

Кафедра приладів і контрольно-вимірювальних систем (ПВ) : [172] Strona Główna Zespołu

Ostatnie Zgłoszenia

Discover

Kolekcje tego Zespołu:

Навчальні матеріали кафедри приладів і контрольно-вимірювальних систем [55]

Наукові публікації працівників кафедри приладів і контрольно-вимірювальних систем [113]

Патенти працівників кафедри приладів і контрольно-вимірювальних систем [2]

Презентації кафедри приладів і контрольно-вимірювальних систем [2]