Пошук
Додати фільтри:
Використовуйте фільтри для уточнення результатів пошуку.
Результати 1-2 зі 2 (час пошуку: 0.001 секунди).
- назад
- 1
- далі
Знайдені матеріали:
Тип | Дата випуску | Дата внесення | Назва | Автор(и) |
---|---|---|---|---|
Article | 15-січ-2010 | 1-чер-2010 | Схема оптичного пристрою для визначення відхилень поверхні від теоретичної | Зелінський, Ігор Микитович; Яворська, Мирослава Іванівна; Zelinskiy, I.; Yavorska, M. |
Article | 25-чер-2016 | 25-чер-2016 | Пристрій для дистанційного вимірювання параметрів поверхонь рефлекторів антен | Паламар, Михайло Іванович; Зелінський, Ігор Микитович; Яворська, Мирослава Іванівна |
Розкриття
за темами
- 1 621.396
- 1 681.518
- 1 CCD matrixes
- 1 diffraction grating
- 1 distance measurements
- 1 instrumental errors
- 1 optical device
- 1 optical measurement system
- 1 reflector surface
- 1 дистанционные измерения
- 1 дистанційне вимірювання
- 1 дифракційна решітка
- 1 инструментальные погрешности
- 1 оптическая измерительная система
- 1 оптична вимірювальна система
- 1 оптичний пристрій
- 1 ПЗС матриці
- 1 поверхность рефлектора
- 1 поверхня рефлектора
- 1 рефлектор антенної системи
- далі >
за мовами
- 1 uk