Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/123456789/464
Назва: Схема оптичного пристрою для визначення відхилень поверхні від теоретичної
Інші назви: Scheme of the optical device for determination the surface form deflection from theoretical
Автори: Зелінський, Ігор Микитович
Яворська, Мирослава Іванівна
Zelinskiy, I.
Yavorska, M.
Бібліографічний опис: Зелінський І.М. Схема оптичного пристрою для визначення відхилень поверхні від теоретичної / Зелінський І.М., Яворська М.І. // Вісник ТДТУ. — 2010. — Том 15. — № 1. — С. 177-181. — (приладобудування та інформаційно-вимірювальні технології).
Дата публікації: 15-січ-2010
Дата внесення: 1-чер-2010
Видавництво: Тернопільський національний технічний університет ім. Івана Пулюя
Місце видання, проведення: Тернопіль, Україна
УДК: 621.396
Теми: оптичний пристрій
дифракційна решітка
ПЗС матриці
optical device
diffraction grating
CCD matrixes
Короткий огляд (реферат): Розроблено схему оптичного пристрою для дослідження форми поверхні. Схема пристрою дозволяє проводити формування множини оптичних марок на поверхні та їхню фотореєстрацію в один і той же момент часу. Для утворення зображень марок та їх фотореєстрації застосовано двовимірну дифракційну решітку, екрани з отворами та ПЗС фотоматриці. Наведено математичне обґрунтування способу визначення координат поверхні.
Optical device for the surface form investigation is designed. It allows the optical marks ensemble shaping on the surface and their registration simultaneously. Diffraction grating, opaque screens with holes and CCD matrixes were used for registration the optical marks. Mathematical prescription of surface coordinate determinations is given.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://elartu.tstu.edu.ua/handle/123456789/464
ISSN: 1727-7108
Власник авторського права: © „Вісник Тернопільського національного технічного університету“
Статус публікації : Опубліковано раніше
Тип вмісту: Article
Розташовується у зібраннях:Вісник ТДТУ, 2010, Том 15, № 1
Наукові публікації працівників кафедри приладів і контрольно-вимірювальних систем



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.