Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/123456789/17273

Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorПаламар, Михайло Іванович-
dc.contributor.authorЗелінський, Ігор Микитович-
dc.contributor.authorЯворська, Мирослава Іванівна-
dc.date.accessioned2016-06-25T20:42:32Z-
dc.date.available2016-06-25T20:42:32Z-
dc.date.issued2016-06-25T20:42:32Z-
dc.identifier.urihttp://elartu.tntu.edu.ua/handle/123456789/17273-
dc.description.abstractЗапропоновано схему приладу та оптичної системи для дистанційного вимірювання координат поверхні рефлектора за принципом суміщення світлових марок від монохромних пучків. Приведено формули для обчислення координат точок сканованої поверхні за значеннями параметрів приладу. Дано оцінки точності значень вимірюваних величин.uk
dc.description.abstractПредложена схема прибора и оптической системы для дистанционного измерения координат поверхности рефлектора путем совмещения световых марок от монохромных пучков. Приведены формулы для вычисления координат точек сканированной поверхности, исходя из значений параметров прибора. Даны оценки точности значений измеряемых величин.-
dc.description.abstractThe scheme of the device and the optical system for reflector surface measurement is proposed. The device implements a triangulation principle in the determination of distance to a remote point. The optical system forms two coaxial light beams of equal intensity. One beam directed at a right angle to the base. At the initial stage of the measurements second beam is direct in a manner to provide beams tracks juxtaposition on the beginning of the Cartesian coordinate system tied to the scanned surface. The displacement of the light beams tracks on a surface implemented by means of turning of the base around the point of its fixing, and the basis length changing in a neighborhood of its initial length value. The values of the point coordinates are determined through the base displacement and the angle of the base rotation, provided the juxtaposition of both beams. It should be noted that beam track on the surface is observed as a diffraction pattern on the ring diaphragm in the far zone with a clear expressed main peak whose diameter at the working distance (about 2–3 m) is approximately 0.2 mm. Visual observation of beams tracks juxtaposition is conduct by means of photographic system, which contains long-focal objective, a set of filters for laser light selection and digital camera. Monitoring is conduct on the computer screen at 50-fold magnifications of main peaks. It allowed us to make a conclusion about main peaks juxtaposition with accuracy ~ 0.1 mm. The formulas to calculate the coordinates of the point on the surface scanned through base rotation angle and base length displacement are given. An analysis of the performance parameters ranges of device depending on the size of the surface scanned is made. Also the sensitivity coefficients of measured values to device parameters are assessed. It is established that the instrumental errors of the device in the range of angle changing within (–5◦, 5◦) and the range of base displacement changing within (–12 cm, 12 cm) do not exceed fractions of tenths of a millimeter. To light beams displacement vertically there is a possibility in the device to rotate the optical system in the plane perpendicular to the base. A map of the surface deviation from the shape is formed with regard to assessments of instrumental errors in a defined range of the device settings change.-
dc.format.extent122-126-
dc.subjectрефлектор антенної системиuk
dc.subjectоптична вимірювальна системаuk
dc.subjectповерхня рефлектора-
dc.subjectдистанційне вимірювання-
dc.subjectоптична вимірювальна система-
dc.subjectінструментальні похибки-
dc.subjectповерхность рефлектора-
dc.subjectдистанционные измерения-
dc.subjectоптическая измерительная система-
dc.subjectинструментальные погрешности-
dc.subjectreflector surface-
dc.subjectdistance measurements-
dc.subjectoptical measurement system-
dc.subjectinstrumental errors-
dc.titleПристрій для дистанційного вимірювання параметрів поверхонь рефлекторів антенuk
dc.typeArticleuk
dc.rights.holder© Паламар Михайло, Зелінський Ігор, Яворська Мирослава, 2015uk
dc.format.pages5-
dc.subject.udc681.518uk
dc.relation.references1. Поляк В. С. Прецизионные конструкции зеркальных радиотелескопов: Опыт создания, проблемы анализа и синтеза / В. С. Поляк, Є. Я. Бервалдс. – Рига: Зинатне, 1990. – 526 с. 2. Bolli P., Mazzarella G., Montisci G., Serra G., An Alternative Solution for the Reflector Surface Retrieval Problem // Progress In Electromagnetics Research, PIER 82, 167-188 (2008). 3. Бойко С. В. Автоматизація підготовки виробництва корпусних деталей методом зворотного інжинірингу // Вісник ЧДТУ. – 2013. – № 2(65). – С. 78–85. – (Технічні науки). 4. Паньків Х. В. Системи для безконтактного вимірювання координат точок поверхні стінки вертикальних сталевих резервуарів // Розвідка та розробка нафтових і газових родовищ. – 2014. – № 2(51). 5. Зелінський І. М. Схема оптичного пристрою для визначення відхилень поверхні від теоретичної / Зелінський І. М ., Яворська М. І. // Вісник ТДТУ. – 2010. – Том 15. – №1. – С. 177–181. – (приладобудування та інформаційно-вимірювальні технології). 6. Комплексное применение трехмерного лазерного сканирования и технологий AVEVA для контроля строящихся объектов [Электронный ресурс] // САПР и графика. – 2012. – №9. – Режим доступа: http://www.sapr.ru/issue. aspx?iid=1071.-
dc.identifier.citationenМ. Паламар Пристрій для дистанційного вимірювання параметрів поверхонь рефлекторів антен [Текст] / М.І. Паламар, І.М. Зелінський, М.І. Яворська // Вимірювальна техніка та метрологія. - 2015. - № 76. - с.122-126uk
dc.contributor.affiliationТернопільський національний технічний університет ім. І. Пулюя, кафедра приладів і контрольно-вимірювальних систем, вул. Текстильна, 28, м. Тернопіль, 46016, Україна-
dc.citation.journalTitleВимірювальна техніка та метрологія-
dc.citation.issue76-
dc.citation.spage122-
dc.citation.epage126-
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації працівників кафедри приладів і контрольно-вимірювальних систем

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
metrolog_2015_76_18.pdf688,79 kBAdobe PDFПереглянути/відкрити
metrolog_2015_76_18.djvu245,95 kBDjVuПереглянути/відкрити
metrolog_2015_76_18__COVER.png416,29 kBimage/pngПереглянути/відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.

Інструменти адміністратора