1. ELARTU — Інституційний репозитарій ТНТУ імені Івана Пулюя
2. Матеріали конференцій, семінарів, читань
3. 2017
4. Ⅴ Міжнародна науково-технічна конференція „Пошкодження матеріалів під час експлуатації, методи його діагностування і прогнозування“ (2017)

Pealkiri:	For notes
Bibliographic description (Ukraine):	For notes // Праці конференції „Пошкодження матеріалів під час експлуатації, методи його діагностування і прогнозування“, 19-22 вересня 2017 року. — Т. : ТНТУ, 2017. — С. 262–263. — (Оцінювання залишкового ресурсу елементів конструкцій).
Bibliographic description (International):	For notes. Proceedings of the Conference „In-service damage of materials, its diagnostics and prediction“ (Tern., 19-22 September 2017), pp. 262-263 [in Ukrainian].
Is part of:	Праці Ⅴ Міжнародної науково-технічної конференції „Пошкодження матеріалів під час експлуатації, методи його діагностування і прогнозування“ Proceeding of the International Conference “In-Service Damage of Materials, its Diagnostics and Prediction”
Conference/Event:	Ⅴ Міжнародна науково-технічна конференція „Пошкодження матеріалів під час експлуатації, методи його діагностування і прогнозування“
Journal/Collection:	Праці Ⅴ Міжнародної науково-технічної конференції „Пошкодження матеріалів під час експлуатації, методи його діагностування і прогнозування“
Ilmumisaasta:	19-sep-2017
Date of entry:	7-det-2017
Kirjastaja:	ТНТУ TNTU
Place of the edition/event:	Тернопіль Ternopil
Temporal Coverage:	19-22 вересня 2017 року 19-22 September 2017
Number of pages:	2
Page range:	262-263
Start page:	262
End page:	263
URI:	http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22606
ISBN:	978-966-305-083-6
Copyright owner:	© Тернопільський національний технічний університет імені Івана Пулюя, 2017; © Ternopil Ivan Pulu’uj National Technical University, 2017
Content type:	Conference Abstract
Asub kollektsiooni(de)s:	Ⅴ Міжнародна науково-технічна конференція „Пошкодження матеріалів під час експлуатації, методи його діагностування і прогнозування“ (2017)

Kõik teosed on Dspaces autoriõiguste kaitse all.